1、XPS和EDS有什么区别
edx:energy
dispersive
x-ray
fluoresence
spectrometer
能量色散x射线荧光光谱仪
eds:energy
dispersive
spectrometer
能量色散谱仪
edx是荧光分析,eds是能谱分析,后者不是x射线能谱仪,如果想准确定量,可以考虑化学分析,xps,或者俄歇分析(aes),xps和aes对表面含量较为适合。
要看你应用在哪一方面.如做表面元素分析的话建义你有eds或xps.
2、EDX,EDS,XPS,AES的异同
您好:
以下方法供您参考:EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer
能量色散X射线荧光光谱仪
EDS:Energy Dispersive Spectrometer
能量色散谱仪
EDX是荧光分析,EDS是能谱分析,后者不是x射线能谱仪,如果想准确定量,可以考虑化学分析,XPS,或者俄歇分析(AES),XPS和AES对表面含量较为适合。
3、xps图具体分析方法
XPS(X射线光电子能谱分析)分析方法包括:
1、元素的定性分析,可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。
2、元素的定量分析,根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度。
3、固体表面分析,包括表面的化学组成或元素组成,原子价态,表面能态分布,测定表面电子的电子云分布和能级结构等。
XPS的原理是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。以光电子的动能/束缚能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。
X射线光电子能谱分析的依据:
XPS主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时,受到不同程度的吸收,如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多,那么通过人体后的X射线量就不一样。
这样便携带了人体各部密度分布的信息,在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用的强弱就有较大差别,因而在荧光屏上或摄影胶片上(经过显影、定影)将显示出不同密度的阴影。
根据阴影浓淡的对比,结合临床表现、化验结果和病理诊断,即可判断人体某一部分是否正常。于是,X射线诊断技术便成了世界上最早应用的非刨伤性的内脏检查技术。
4、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?帮帮忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜
EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜
STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜
AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜
XRD:X-ray diffractionX射线衍射
XPS:X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱
FT-IR:Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪
UV-VISQ:Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱
5、哪位大神可以清楚的告诉我SEM,EDS,XRD的区别以及各自的应用
SEM,EDS,XRD的区别,SEM是扫描电镜,EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪,是用于物相分析的检测设备。
扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM,图2-17、18、19)于20世纪60年 代问世,用来观察标本的表面结构。其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样 品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子 束同步的扫描图像。图像为立体形象,反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束 的轰击下发出次级电子信号。 目前扫描电镜的分辨力为6~10nm,人眼能够区别荧光屏上两个相距0.2mm的光点,则扫描电镜的最大有效放大倍率为0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。使用范围:
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域;
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。
6、XPS和EDX有什么区别
EDS是能谱分析,EDX是荧光分析,EDXRF是能量色散型荧光X射线,目前有害物质分析仪和一些镀层厚度分析仪利用此原理。
EDS,( 电子差速锁)英文全称为ElectronicDifferentialSystem, 它是ABS的一种扩展功能,用于鉴别汽车的轮子是不是失去着地摩擦力,从而对汽车的打滑车轮进行控制。另有an HP company 是全球信息服务业领导者之一,以协助全球客户提高企业的运营绩效。另有EDS (能谱,Energy Dispersive Spectrometer),EDS电气设计软件包。
EDX:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy能量色散X射线光谱仪,也可简写为EDS
EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的, 根据波长测定试样所含的元素,根据强度测定元素的相对含量。
常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。
7、怎样分析XPS能谱
您好
您可以找一本 X射线光电子潽学 的书来看看,如果您打算了解这门学问的话,但是如果您仅仅是想分析谱图,那么就简单了,首先您做出的谱图如果是含有多种元素的图,那就要先完成分峰这个任务,找一个分峰的软件,我用的是XPS PEAKFIT,然后查到各个峰的位置,也就是找到横坐标:结合能(Binding energy),再和标准的峰位表进行比对,就可以确定这个峰到底是对应什么元素了。大体就是这个思路,因为我做的是稀磁半导体的掺杂,所以我使用XPS来确定我掺杂物的价态,所以我简要说了我的工作所涉及的步骤,XPS还有其他很多用处。