1、如何使用image pro plus测SEM表面粗糙度
这个标尺当然不能随便 画个小横杠就行了.本篇就是介绍如何使用 imagepro plus 程序给图片上标上标尺
2、如何用image pro plus统计sem图微球粒径
R
3、扫描电镜图片如何分析
第一、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。
一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。
第二、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
4、如何用image pro plus分析图像荧光强度
打开Launch Center Pro，创建一个叫Omnifocus的操作组，然后再往这个操作组添加新的操作。
如果你要在 Omnifocus 创建新收件箱项，添加URL到Launch Center Pro即可通过Launch Center Pro快捷创建收件箱项。
在URL一栏输 入：omnifocus:///add?name=[prompt]添加新的URL快捷进入创建一个新收件箱项
点go就可以直接进入Omnifocus了
如果你想把复制到内容粘贴到新收件箱项，我们还可以创建一个新的快捷操作到Launch Center Pro，命名为粘贴，然后再URL一栏输入：omnifocus:///add?name=[prompt]¬e=[clipboard]。
5、怎么利用image-proplus 6.0得到扫描电镜直径分布图
这个问题非常的宽泛，ipp可以分析的数据可是相当多的，怎么进行统计分析很大程度上是你的分组决定的。至于统计，对ipp来说是统计什么指标。
6、如何用Image-Pro Plus，Image J分析WESTERN 图
条带分析最好使用其它更为专业的软件（比如nebular提供的Labworks，Quantity
one等），但是对于Western这种简单的条带，IPP完全可以分析，只是复杂一点：
1 选用指标为IOD，故首先将系统的灰度设定改过来，（改为0
白，255黑）
2 确定背景的灰度（在背景区域选择一个AOI）
3 Histogram显示，平均灰度为66；所以，要通过Operation的功能，将待分析的所有膜照片的背景均加或减到某一固定值（由自己确定，方法见以前的介绍）
4 通过Operation处理后，在Segmentation下，确定阳性区域的范围（所有的图像都应该统一；我选择的是0-98）
5 选择Transparent on white,Create preview image
6 注意新生成的图片不是灰度图，还要经过转换
7 自由AOI，勾画出大概的轮廓即可 8 Histogram，Sum值即为需要的阳性区域IOD
9 改变区域大小，Sum值变化不大（原因为白色背景的IOD均为0）
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其他条带也通过类似的方法分析；最后求出阳性区域IOD与内参IOD的比值，用于统计学分析。
整个分析的关键在于背景灰度的统一与分割时的一点小技巧；如果没有经过Segmentation而直接用自由AOI主观地确定条带的边界，是不可取的。
7、怎么利用image-proplus 6.0分析sem纤维膜直径
Image-ProPlus是功能强大的2D和3D图像处理、增强和分析，具有异常丰富的测量和定制功能。作为鼎鼎大名的Image-Pro系列中功能最强大的成员之一，它包含了异常丰富的增强和测量工具，并允许用户自行编写针对特定应用的宏和插件。