1、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
2、测扫描电镜需要制成悬浊液吗，我想观察样品的形貌，测SEM还是TEM好？
一般都是需要分散的，否则容易团聚在一起，看不清楚形貌。当然如果你的样品与乙醇有反应就算了。
如果仅仅是观测形貌，SEM就可以，只要粒径不是小到需要高分辨的程度。如果需要对晶体结构有所了解，最好还是做TEM。粉末样品还是比较容易制备的。
3、扫描电子显微镜样品的高低不平对能谱数据采集有影响吗？如何解决
有，
尽量平整，
校准程序
4、聚合物想测SEM，如何制作样品？
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。
5、请问大家，SEM样品都是如何进行前处理的？
用乙醇分散一下，然后涂在导电胶上，最后用洗耳球吹一下，把多余的吹掉