sem和xrd的先后顺序

1、哪位大神可以清楚的告诉我SEM，EDS，XRD的区别以及各自的应用

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。
扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM，图2-17、18、19）于20世纪60年 代问世，用来观察标本的表面结构。其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样 品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子 束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束 的轰击下发出次级电子信号。 目前扫描电镜的分辨力为6~10nm，人眼能够区别荧光屏上两个相距0.2mm的光点，则扫描电镜的最大有效放大倍率为0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。使用范围：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。

2、谁知道SEM和XRD怎么去分析啊

SEM主要是用来检测形貌和粒径的，XRD是用来做定性和半定量的。

3、XRD和SEM联合分析作用是什么？

如果联行分析他们不起作用的话，可以把联合放血拆解成分析的一些阶段。

4、SEM和XRD的联合分析作用是什么?

这个SEM和xrd，他们的联系和分析也是没什么大作用的

5、怎么区分次序和顺序

1、排列规律不同

次序：指时空维度上排列的先后顺序。排序元素随意排列出先后即可，不强调遵循规律排列。

顺序：依照一定规律排列的先后次序。偏重强调排序元素遵循一定规律排列。

2、归属关系不同

次序归属于顺序。顺序有广义狭义之分。广义，就是指次序；狭义，就是指有规律的次序。

如：按年龄从大到小顺序排列、按身高从高到低顺序排列、按得分从高到低顺序排列。

3、出处不同

次序：唐·刘知几 《史通·二体》：“或以身隐位卑，不预朝政，或以文烦事博，难为次序，皆略而不书，斯则可也。”

译文：“有人因隐地位低下，不参与朝政，有人把文章麻烦事博，难以编排，都略而不书，这样就可以了。”

顺序：老舍 《龙须沟》第三幕：“ 赵大爷 ，辛苦啦！这儿都顺序！”

6、xrd sem表征差异

具体概念:http://ke.baidu.com/view/116780.html?wtp=tt
检测方法:用XRD检测仪检测
表征差异：跟标准图谱对比，根据波峰的差异可以得到相关的信息。

7、XRD 和SEM的结果问什么不一致

XRD一般用来鉴定物相，对于一些常见的复合矿物或者黏土矿物可以做一些定量分析。而SEM只是看表面形貌，这二者没什么关联的，有需要的话可以私信我，具体再看。

8、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。