1、EDX 点扫，面扫和mapping这三者之间有什么差别
EDX 点扫,面扫和mapping这三者之间有什么差别？
就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情况），点分析可以基本定量分析元素。
2、扫描电镜各元素面扫图怎么用软件叠加仪器
每个图谱中都有亮点和黑暗的地方，他们应该是不同的元素，一个图谱就是一种元素，要把这些图谱和SEM照片结合起来分析
3、qunta 扫描电镜 怎样做面扫
找厂家啊，这种事情还用问吗，说明书上一般都会有的，你不会找厂家客服
4、sem扫描的时候会出现元素分析吗
如果是即将开始学习仪器操作的管理人员,建议先系统学习理论知识,再找专业的仪器工程师培训.如果是学生,要使用电镜,从安全角度考虑,1、2、3几项通常是值机人员完成的.我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源,只要能正常开机,一般无问题；2、加高压前一般要达到额定真空,否则气体电离度大、损伤电子枪,但是电镜软件一般都已经设置好,不到工作真空,根本加不上去高压,所以只要能够加高压,也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压,等30秒以上,待灯丝冷却后再放气为宜,主要也是为了保护电子枪；3、样品台有它的额定移动距离,包括平面方向和上下方向,平面方向移动到极限时会有报警提示,看到提示往回移动即可.高度方向也如此,但是要注意向上移动时,要缓慢,要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴,损坏设备；4,电子束与试样作用,可激发出多种信号,如二次电子信号（用于形貌观察）,背散射电子信号（用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析）、特征X射线（用于内部元素分析）、阴极荧光（用于发光材料研究）,这些信号已经被有效的加以利用,这是一门独立的学科,若需要详细了解,你需要系统地学习一下.
5、能谱扫描成分的深度是多少？
Q :用SEM中的EDS做元素面扫描，其反映的是多少深度的信息？RE:分析深度取决于样品本性和选用的参数，不同的加速电压，穿透深度不一样，电压越高，X射线激发深度越深 ,通常5KV一个单位入射深度2-3个mirc. 电压强度越高入射深度越强. 轻元素比较深，重元素相对较浅。具体书上有公式计算。和加速电压，元素的吸收系数等有关系。一般在几微米左右，重元素可能在几百纳米。
6、就采用能谱检测结果而言，请问扫描电镜和电子探针有什么差别？电子探针元素面扫是能谱还是波谱分析的？
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
7、ss-550扫描电镜面扫，可否得到每点的元素含量值
扫描电镜面扫与电镜型号无关，与所配的能谱有关。元素含量测试是能谱仪测出的，不过可以确定的是能谱仪的面扫结果得不到每点的元素含量值。每个点需要单独测量。
8、SEM的面扫描和先扫描有什么区别，打能谱是什么作用
面扫是整个试件的表面，包含线扫，能谱可以看出元素分布含量