1、为什么我的样品滴到硅片上测sem能谱还是能检测到碳
SEM扫描电镜扫描电镜制备品品溶解用溶溶剂进行散铺云母片或者硅片溶剂晾干或烘干再测
2、跪求sem edx电子显微镜的价格，最好是日本HITACHI或者JEOL
edx 50000-60000usd
3、扫描电镜SEM/EDX测试的井深是多少？
````
应该是景深吧``
焦深计算公式
L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：
L: 焦深
r: 显像管最小分辨距离
M：放大倍数
d：入射电子束直径
2α：物镜孔径角。
从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作距离和入射电子束直径有关。由于r（显像管的分辨率）和2α都是未知数，实际上不能计算。焦深也只是个人的视觉感受，还是直观的测量一下为好。
又查了资料``显像管最小分辨距离为0.22mm-0.3mm, 孔径角的典型数值为10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以计算出在有效放大倍率下的焦深数据。设d=3纳米，孔径角2α=10-2 rad，r=0.3mm。计算焦深如下：
1000倍下为59.4微米。5000倍下为11.4微米。10000倍下为5.4微米。超过100000倍已经超过了有效放大倍率。不能计算。
4、液体可以做SEM/EDX分析其中杂质颗粒的元素吗
国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面，然后得电压。做液体的话，我觉得有以下几个问题：1.由于钨上面有偏压，若分析的杂志带电或有极性就没法测了（会通电的） 2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话，你得测那些无极性的大杂质颗粒，但这样容易碰坏针尖，针尖一般只有几个原子。 反正我觉得没法测。 EDX这个我不清楚，似乎是可以的。 你是不是吧SEM看错了，是SERS（表面增强拉曼）吧。
5、SEM的EDX中的Cl 的能量在多少电子伏特
烷基命名法就是系统命名法，有机化合物种类繁多，数目庞大，即使同一分子式，也有不同的同分异构体，若没有一个完整的命名方法来区分各个化合物，在文献中会造成极大的混乱，因此认真学习每一类化合物的命名是有机化学的一项重要内容。
直链烷烃（n-alkane）的名称用“碳原子数+烷”来表示。当碳原子数为1～10时，依次用天干——甲、乙、丙、丁、戊、己、庚、辛、壬、癸——表示。碳原子数超过10时，用数字表示。例如，六个碳的直链烷烃称为己烷。十四个碳的直链烷烃称为十四烷。有分支的烷烃称为支链烷烃。
6、sem扫描电镜能谱分析中是怎么定为原子的
透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构；扫描式电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌，也能与X射线衍射仪或电子能谱仪相结合，构成电子微探针，用于物质成分分析；发射式电子显微镜用于自发射电子表面的研究。