sem探头

1、如何清洗SEM探头

把样品仓打开，拿个吸尘器套上真空泵用的接管吸一吸一般就可以。一定小心，有些磁性粉末有可能进入镜筒，严重者电子束下来的很少，图像亮度非常低，用此办法简单有效。
如果图像亮度影响不大，可以用脱脂棉签沾上少许酒精，不要太湿，擦拭物镜下极靴孔，转一下拿出来换新的棉签，反复多次，直到棉签不脏为止。切忌用一个棉签反复蹭！

2、有没有用过扫描电镜（SEM）的呀？我想看下我筛出来细菌的样子，但是不知道怎么对 样品进行处理！

晕，那样能看到才怪。sem样品要有一定导电性才行，不然电荷聚集你什么也看不到。楼上正解

3、sem摄像头与电脑连不上

首先，先卸载你原来的程序
卸载方法：右击“我的电脑”-“属性”-“硬件”-“设备管理器”或者直接按Ctrl+F1,然后打开“通用串行总线控制器”，把下面的"Usb Root Hub"都删除掉。
还有就是打开“控制面板”的“添加删除程序”有没有摄像头的应用程序如vm301的程序卸载掉
2、然后重新启动，重启之后就会找到新硬件，这时不要选择自动安装，然后点击“下一步”，然后把“搜索软盘、CD rom”打钩，其它的有钩的通通去掉。并且放上光盘，不要从光盘里安装驱动。让系统自动搜索。
这样就可以安装成功了。
一、 驱动不容易安装的原因
1、 目前市面上流行的中星微摄像头驱动版本很多，许多用户在安装卸载驱动过程中残留有垃圾文件在系统注册表里面，造成后面的驱动更新过程中安装困难；
2、 目前市面上存在着一种克隆操作系统，里面集成了中星微旧版并同过了WHQL的驱动，当用户安装新买的摄像头或更新最新驱动后，摄像头无法正常工作；
方法一、自动卸载方法
步骤一、点击开始菜单中对应驱动的Uninstall卸载，（有可能Uninstall的功能已经破坏，那么可以通过安装新驱动进行反安装，系统会首先将旧驱动卸载掉，同样也可以达到目的。）
步骤二、在新的驱动安装前选择附件中以下相对应的可执行文件：
FOR_XP_ME_98.EXE 用于Windows XP/ME/98
FOR_Win2K.EXE 用于Windows 2000
（注意：该工具要求系统的默认路径是C盘才有效，在Windows ME/98操作系统下如出现错误对话框，表示系统已经干净了，该工具不会对已经安装的驱动产生危害）
步骤三、安装新的驱动
方法二、手动卸载方法
步骤一、在我的电脑－工具－文件夹选项－查看中将隐藏文件和文件夹选择为“选择所有文件和文件夹
然后到C:\Windows\inf文件夹中将所有的OEM文件（如oem0.inf，oem0.pnf；oem1.inf，oem1.pnf…）剪切并转移到另外的目录中保存或者手动删除掉该摄像头对应的oem文件
步骤二、完成上面的步骤后，插入USB摄像头，这时电脑会发现新硬件并弹出安装驱动的信息，选择取消，然后用鼠标右键点击我的电脑，选择属性，在弹出系统属性界面中，进入系统属性－硬件－设备管理器将带有感叹号的PC CAMERA按鼠标右键卸载;
步骤三、拔除摄像头，开始安装新的驱动。
针对以上第二种现象
步骤一、克隆操作系统是将摄像头驱动默认存放在C:\Windows\Driver\Camera\301P文件夹下面，当你点击新的摄像头驱动光盘安装时，系统不会提示已经存在有摄像头驱动并把此驱动卸载，请把这个文件夹找到并删除掉；
步骤二、先安装新的摄像头驱动，再插上摄像头装载硬件，安装完成后重新启动电脑后可以正常使用；步骤三、不需重复以上两个步骤，直接点击新的光盘安装最新的驱动，插上摄像头后系统检测到新硬件，并自动完成硬件驱动装载；

4、深圳普瑞赛思的SEM有不同探头吗？

根据实际情况，不同的材料采用不同的探头。而且不同探头能同时工作，切换探测器无需重新调节电子束。这是普瑞赛思SEM的重要优势之一。

5、sem se2模式和inlens模式的区别

SE1和SE2指的是不同的信号，不同的探测器，换句话说就是用不同的探测器接收不同的信号。
SE1是内置在镜筒的二次电子探头，有的型号蔡司电镜这个探头也叫Inlens，只接收SE1（入射电子束直接激发的二次电子，产生范围较小）。
SE2在场发射电镜中样品室内的样品台侧边二次电子探头，接收SE2（入射到样品中的电子激发出的二次电子，产生范围较大）。
因为SE1产生范围小，可以在小工作距离下工作，SE2产生范围大，需要一定的工作距离，因此SE1分辨率相对高一点

6、扫描电镜sem的主要原理是什么？测试过程需要重点注意哪些操作

电镜的原理是：电子枪发出电子束打到样品表面，激发出二次电子、背散射电子、X-ray等特征信号，经收集转化为数字信号，得到相应的形貌或成分信息。
测试注意事项：
1、新人找别人帮忙测试时，
明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，然后跟测试相关人员联系确定能否满足你的测试需求
2、新人自己操作测试时，
明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，
测试时注意样品干燥洁净，操作时样品和样品台避免撞到探头

7、什么是SEM？

8、请教各位怎样拍出大角度的SEM图

可以有3个方法：
1，制样的时候将样品倾斜放置。
2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。
3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图

9、如何获得清晰的扫描电镜（SEM）图像

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金
2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下
3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内
4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

10、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、

一、名称不同

1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。

2、TEM，英文全称：，中文称：透射电子显微镜。

3、XRD，英文全称：Diffractionofx－rays，中文称：X射线衍射。

4、AES，英文全称：AugerElectronSpectroscopy，中文称：俄歇电子能谱。

5、STM，英文全称：ScanningTunnelingMicroscope，中文称：扫描隧道显微镜。

6、AFM，英文全称：AtomicForceMicroscope，中文称：原子力显微镜。

二、工作原理不同

1．扫描电子显微镜的原理是用高能电子束对样品进行扫描，产生各种各样的物理信息。通过接收、放大和显示这些信息，可以观察到试样的表面形貌。

2．透射电子显微镜的整体工作原理如下：电子枪发出的电子束经过冷凝器在透镜的光轴在真空通道，通过冷凝器，它将收敛到一个薄，明亮而均匀的光斑，辐照样品室的样品。通过样品的电子束携带着样品内部的结构信息。通过样品致密部分的电子数量较少，而通过稀疏部分的电子数量较多。

物镜会聚焦点和一次放大后，电子束进入第二中间透镜和第一、第二投影透镜进行综合放大成像。最后，将放大后的电子图像投影到观察室的荧光屏上。屏幕将电子图像转换成可视图像供用户观察。

3、x射线衍射（XRD）的基本原理：当一束单色X射线入射晶体，因为水晶是由原子规则排列成一个细胞，规则的原子之间的距离和入射X射线波长具有相同的数量级，因此通过不同的原子散射X射线相互干涉，更影响一些特殊方向的X射线衍射，衍射线的位置和强度的空间分布，晶体结构密切相关。

4．入射的电子束和材料的作用可以激发原子内部的电子形成空穴。从填充孔到内壳层的转变所释放的能量可能以x射线的形式释放出来，产生特征性的x射线，也可能激发原子核外的另一个电子成为自由电子，即俄歇电子。

5．扫描隧道显微镜的工作原理非常简单。一个小电荷被放在探头上，电流从探头流出，穿过材料，到达下表面。当探针通过单个原子时，通过探针的电流发生变化，这些变化被记录下来。

电流在流经一个原子时涨落，从而非常详细地描绘出它的轮廓。经过多次流动后，人们可以通过绘制电流的波动得到构成网格的单个原子的美丽图画。

6．原子力显微镜的工作原理：当原子间的距离减小到一定程度时，原子间作用力迅速增大。因此，样品表面的高度可以直接由微探针的力转换而来，从而获得样品表面形貌的信息。

三、不同的功能

1．扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法，可以直接利用样品表面材料的材料性质进行微观成像。

扫描电子显微镜具有高倍放大功能，可连续调节20000～200000倍。它有一个大的景深，一个大的视野，一个立体的形象，它可以直接观察到各种样品在不均匀表面上的细微结构。

样品制备很简单。目前，所有的扫描电镜设备都配备了x射线能谱仪，可以同时观察微观组织和形貌，分析微区成分。因此，它是当今非常有用的科学研究工具。

2．透射电子显微镜在材料科学和生物学中有着广泛的应用。由于电子容易散射或被物体吸收，穿透率低，样品的密度和厚度会影响最终成像质量。必须制备超薄的薄片，通常为50～100nm。

所以当你用透射电子显微镜观察样品时，你必须把它处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常挂在预处理过的铜线上观察。

3X射线衍射检测的重要手段的人们意识到自然，探索自然，尤其是在凝聚态物理、材料科学、生活、医疗、化工、地质、矿物学、环境科学、考古学、历史、和许多其他领域发挥了积极作用，不断拓展新领域、新方法层出不穷。

特别是随着同步辐射源和自由电子激光的兴起，x射线衍射的研究方法还在不断扩展，如超高速x射线衍射、软x射线显微术、x射线吸收结构、共振非弹性x射线衍射、同步x射线层析显微术等。这些新的X射线衍射检测技术必将为各个学科注入新的活力。

4，俄歇电子在固体也经历了频繁的非弹性散射，可以逃避只是表面的固体表面原子层的俄歇电子，电子的能量通常是10～500电子伏特，他们的平均自由程很短，约5～20，所以俄歇电子能谱学调查是固体表面。

俄歇电子能谱通常采用电子束作为辐射源，可以进行聚焦和扫描。因此，俄歇电子能谱可用于表面微观分析，并可直接从屏幕上获得俄歇元素图像。它是现代固体表面研究的有力工具，广泛应用于各种材料的分析，催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。

5．当STM工作时，探头将足够接近样品，以产生具有高度和空间限制的电子束。因此，STM具有很高的空间分辨率，可以用于成像工作中的科学观测。

STM在加工的过程中进行了表面上可以实时成像进行了表面形态，用于查找各种结构性缺陷和表面损伤，表面沉积和蚀刻方法建立或切断电线，如消除缺陷，达到修复的目的，也可以用STM图像检查结果是好还是坏。

6．原子力显微镜的出现无疑促进了纳米技术的发展。扫描探针显微镜，以原子力显微镜为代表，是一系列的显微镜，使用一个小探针来扫描样品的表面，以提供高倍放大。Afm扫描可以提供各类样品的表面状态信息。

与传统显微镜相比，原子力显微镜观察样品的表面的优势高倍镜下在大气条件下，并且可以用于几乎所有样品（与某些表面光洁度要求）并可以获得样品表面的三维形貌图像没有任何其他的样品制备。

扫描后的三维形貌图像可进行粗糙度计算、厚度、步长、方框图或粒度分析。