1、SEM和TEM区别
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning
Electronic
Microscopy.
TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission
Electron
Microscope.
区别：
1.
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像.
TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
2.
SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。
3.
TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。
2、扫描电子显微镜(SEM)拍摄的格式是什么
有TIF和JPG
TIF图片通常2-3M大小，JPG格式通常几百K，但是TIF带有datebar，即放大倍数，扫描模式等信息，一般保存TIF格式
3、什么是TEM,SEM,FIM
透射电子显微镜(TEM)
扫描电子显微镜(SEM)
场离子显微镜(FIM)
其他的还有：
高压电子显微镜(HVEM)、分析电子显微镜(AEM)、场发射电子显微镜(FEEM)、声学显微镜(AM)、扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)
电子显微镜差不多就这些了
4、电子显微镜 SEM 的指示灯的意思？
可能你还没有机会接触更深，也就是说还没有机会上手操作，否则一定需要培训，简单培训过后，这些都必须知道，否则连开关机都不会。
虽然不同型号标识会略有不同，但通过意思还能判断的：
Power--电镜主机的电源开关
Air-- 基本是指泄真空，往真空室放气，这样才可以打开样品仓，或者电子枪室等。
扫描电镜是高真空系统，一般是由两级或者三级真空泵串联组成，通过真空阀门和真空测量器件共同进行自动逻辑控制。
START UP -- 开始抽真空 ：第一次开机，更换样品后都需要重新抽真空，现在一般都是在软件中控制。软件中本身有指示灯，过去都在主机上用LED灯显示。只要保持抽真空状态，这个等一直亮。按AIR按钮后，真空泵停止运转，这个灯会灭。
SHUT DON-- 关机，不泄漏真空，但真空泵停止运转，可以关闭总电源，保持电镜真空腔体处于真空状态。
R.P，Ratary Pump 缩写，是前级泵，叫做旋片式机械真空泵，最高这空度0.1Pa，一般需要将真空室从大气压抽到10pa 以下。一般扫描电镜抽真空时间设计在3分钟以内。
M.P ，Molecular Pump缩写，是二级泵，叫做分子泵，必须在气体的分子流下工作，启动真空度在10pa 以下。
也不知道你接触的设备是哪个年代的，当前新设备基本都不用真空表，直接是数字显示实际真空度。
总之都是一个意思，估计你的设备比较老。
真空表0-10之间，0代表大气，10代表高真空，高压电源允许打开的真空度（高压电源是有真空保护装置的，真空达不到，好的电镜都会自动锁住高压电源开关，万一真空泄露，也会自动关闭高压电源）。
刚开机的时候，是因为真空室内的腔体处于一定真空状态，不是从大气开始抽的，表指示的是初始真空度，如果打开样品室，更换样品后再重新抽真空，就是从0开始了。
5、扫描电子显微镜(SEM) 和 电子探针(EMPA) 从结构上讲最根本的区别是什么?
哦呼操盘
6、TEM和SEM的工作原理差别?
1、扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope)
（1）、扫描电子显微镜工作原理：
是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
（2）扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 (声子)、电子振荡 (等离子体)。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息;对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。正因如此，根据不同需求，可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。
2、透射电镜TEM (transmission electron microscope)
（1）透射电镜工作原理：
是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。
（2）透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片（通常为50～100nm）。其制备过程与石蜡切片相似，但要求极严格。要在机体死亡后的数分钟钓取材，组织块要小(1立方毫米以内），常用戊二醛和饿酸进行双重固定树脂包埋,用特制的超薄切片机（ultramicrotome）切成超薄切片，再经醋酸铀和柠檬酸铅等进行电子染色。电子束投射到样品时，可随组织构成成分的密度不同而发生相应的电子发射，如电子束投射到质量大的结构时，电子被散射的多，因此投射到荧光屏上的电子少而呈暗像，电子照片上则呈黑色。称电子密度高（electron dense）。反之，则称为电子密度低（electron lucent）。
7、SEM与TEM的区别
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.
区别：
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。
TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。
8、电子扫描显微镜（SEM）的工作原理？？？
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗 粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ～ 35keV 的电子，以其交 叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺 序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集 转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。
示意图：
http://www.science.globalsino.com/1/images/1science9682.jpg