sem50m放大倍数怎么看

1、天文望远镜怎么看放大倍数？

天文望远镜放大倍数和焦距关系放大倍数=物镜焦距/目镜焦距，物镜焦距越长或专目镜焦属距越短，倍数就越高，但受口径限制倍数太高就没有实际的效果了。一般放大倍数不大于口径毫米数的1.5倍。口径mm×0.2=有效最高倍数。目视分辨率=140/口径，口径越大，分辨率越高（数值越小就是能看到越细小的东西）折射使用方便，视野较大，星像明亮，维护方便，看行星好。反射无色差，口径越大获得最强的集光力，看星云好。短焦距镜（小焦比，焦比<=6）适合观测星云、寻找慧星长焦距镜（大焦比，焦比15）适合观测月亮和行星中焦距镜(中焦比,6<焦比<=15)适合观测双星、聚星、变星和星团焦比F=焦距/口径，可以计算出焦比F.

2、显微镜目镜物镜放大倍数究竟怎么看

镜筒上一般显示得有,一般为X10、X100.

3、扫描电镜照片怎么看放大倍数15.0KV 13.2mm*250

如果后面写的是参数的话，第一个是电子枪的加速电压，第二个是表示——的长度，最后一个是倍数

4、你好，请问SEM的放大倍数和分辨率是什么关系？谢谢

SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；

而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍数=眼睛分辨率/电镜分辨率。

图像的清晰度是亮度对比度概念的综合，清晰的图像在肉眼可识别的微小尺度范围内，亮暗反差鲜明。扫描电镜加速电压高可以获得电子光学系统的高分辨能力，可高倍更清晰。

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所谓QVGA液晶技术，就是在液晶屏幕上输出的分辨率是240×320的液晶输出方式。这个分辨率其实和屏幕本身的大小并没有关系。比如说，若2.1英寸液晶显示屏幕可以显示240×320分辨率的图像，就叫做“QVGA 2.1英寸液晶显示屏”；

如果3.8英寸液晶显示屏幕可以显示240×320的图像，就叫做“QVGA 3.8英寸液晶显示屏”，以上两种情况虽然具有相同的分辨率，但是由于尺寸的不同实际的视觉效果也不同，一般来说屏幕小的一个画面自然也会细腻一些。

5、怎么看摄像机的放大倍数

看机身或者说明上的“X”标识…例如“48X”就是48倍变焦…变焦分机械变焦和数码变焦两种…这要看具体资料才知道了…

6、显微镜放大倍数怎么算？

放大的倍数=物镜的倍数*目镜的倍数,
最大倍数=物镜的最大倍数*目镜的倍数
最小倍数=物镜的最小倍数*目镜的倍数
观看时物镜的选择是从小到大的
400倍就可以观察细胞了,1000倍就更加放大一点。

7、怎么知道显微镜的放大倍数

显微镜的放大倍数=物镜放大倍数×目镜放大倍数。

显微镜的放大是指的版显微镜观察物体的长度或者宽度的权放大，这里结合具体例子说明，如目镜的放大倍数是10倍，物镜的放大倍数是40倍，该显微镜的放大倍数为10×40═400倍，要是以面积计算，则放大了40,000倍。

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显微镜是利用凸透镜的放大成像原理，将人眼不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸，其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角（视角大的物体在视网膜上成像大），用角放大率M表示它们的放大本领。

因同一件物体对眼睛的张角与物体离眼睛的距离有关，所以一般规定像离眼睛距离为25厘米（明视距离）处的放大率为仪器的放大率。显微镜观察物体时通常视角甚小，因此视角之比可用其正切之比代替。

8、显微镜看东西不清楚，怎么才能知道显微镜的放大倍数？请高人指教

显微镜的放大倍数是目镜倍数*物镜倍数,显微镜看不清楚是可能是镜头不干净或调节不佳.

9、SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

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SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。