1、SEM扫描电镜里检测到的银(Ag)是否是仪器错判？本身样品是没有含有银这个物质的。
可以手动检查标定，如果确认为Ag, 那么一定是有了。
不同线系重叠峰，自动有时候会标乱
2、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
3、请问哪里有场发射扫描电镜（SEM）测试？
国家有色金属金属及电子材料分析测试中心，他们有三台扫描电镜，其中一台是场发射的。
4、扫描电镜sem的主要原理是什么？测试过程需要重点注意哪些操作
电镜的原理是：电子枪发出电子束打到样品表面，激发出二次电子、背散射电子、X-ray等特征信号，经收集转化为数字信号，得到相应的形貌或成分信息。
测试注意事项：
1、新人找别人帮忙测试时，
明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，然后跟测试相关人员联系确定能否满足你的测试需求
2、新人自己操作测试时，
明确自己的测试内容，如何样品前处理，测试时间，
测试时注意样品干燥洁净，操作时样品和样品台避免撞到探头
5、扫描电镜（SEM）测试是怎么收费的
扫描电镜（SEM）测试各地不一样的，最少的也要几百块啊
6、钨灯丝扫描电镜SEM可以测试低碳钢样品么？
钨灯丝测试低碳钢样品可以找专业检测机构
7、扫描电镜SEM/EDX测试的井深是多少？
````
应该是景深吧``
焦深计算公式
L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：
L: 焦深
r: 显像管最小分辨距离
M：放大倍数
d：入射电子束直径
2α：物镜孔径角。
从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作距离和入射电子束直径有关。由于r（显像管的分辨率）和2α都是未知数，实际上不能计算。焦深也只是个人的视觉感受，还是直观的测量一下为好。
又查了资料``显像管最小分辨距离为0.22mm-0.3mm, 孔径角的典型数值为10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以计算出在有效放大倍率下的焦深数据。设d=3纳米，孔径角2α=10-2 rad，r=0.3mm。计算焦深如下：
1000倍下为59.4微米。5000倍下为11.4微米。10000倍下为5.4微米。超过100000倍已经超过了有效放大倍率。不能计算。
8、西安哪里可以进行AFM-原子力显微镜，SEM-扫描电镜，和XPS（X射线光电子能谱分析）测试？
我江苏的可以 联系[email protected] 样品邮寄我可以测SEM 迅速给测