1、请问SEM，STM，AFM在应用上的区别
SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品,AFM一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2、西安哪里可以进行AFM-原子力显微镜，SEM-扫描电镜，和XPS（X射线光电子能谱分析）测试？
我江苏的可以 联系[email protected] 样品邮寄我可以测SEM 迅速给测
3、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的？
测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。
区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。
4、纳米材料sem相比于afm是不是更容易聚集
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是
5、哪里能做含水样品的AFM或者SEM
AFM图中的颜色代表不同的高度，颜色越亮，代表这个位置的高度越高；颜色越暗，代表高度越低。
1、你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。
2、下面的两张图中就给出了那条亮线对应的高度，及相同颜色两点的高度差。
6、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
7、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀？帮帮忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜
EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜
STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜
AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜
XRD：X-ray diffractionX射线衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱
8、用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别
粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。
AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。
而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系
9、SEM，TEM，AFM检测生物样品都有什么不足
SEM，TEM，AFM检测生物样品都有什么不足
透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.\x0dSEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.\x0d扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐