sem磁性样品工作距离

1、SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

(1)sem磁性样品工作距离扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

2、磁体可否做扫描电镜？

会有影响，最好退磁后观察。如果不退磁，需要测量磁体磁通量减小到接近零的距离，以这个距离来确定SEM WD, 当然WD越大分辨率越低，不过一般看个几千倍还是没问题的。如果是冷场发射扫描电镜，一般使用的是半内物镜，即物镜磁场在样品室内部，这就需要更加注意，即使退磁的样品也要保持在磁场之外，使用较大的WD,不退磁的样品工作距离要求更大。
如果未退磁，注意磁体不要吸附在物镜表面，或者极靴孔内，尤其粉末材料，也许都是微米级别的粉末，会造成固定象散，大幅度降低电镜分辨率，用户根本不知所措，需要非常专业人员拆卸物镜来特殊处理。如果被污染的电镜是进口的，请准备10万元人民币，他们大多在国内的维修工程师根本不灵，需要洋人亲自出马，所以有不幸扫描电镜被污染的客户，尤其是大学实验室，得了恐惧症，见到磁性样品就害怕，一刀切都不给做。COXEM Beijing Office的中国工程师有这个技术，收费也不低哦。

3、请问一下：在调节扫描电镜聚焦时为什么工作距离会变？

工作距离WD的概念是物镜下表面到试样表面的距离，但是由于每次放入不同样品的高度不一样，每个样品上的不同区域的形貌起伏也不同，这均使得WD发生变化。所以，操作扫描电镜时，需要做的第一件事就是先粗略地标定WD，方法就是在某一特定放大倍数下获得聚焦清楚的图像，根据此时的焦长自动标定出相对准确的WD，而后，你继续调节WD的数值才是相对真实可信的。注意，调节WD是要靠机械马达，而利用焦距判定WD是利用焦长以及SEM的系统软件，相比之下，前者是粗调，后者是精确值。你在同一试样上的不同高度的微区聚焦时，该微区距离物镜下表面的WD精确值当然会因聚焦条件的变化而被重新校正。所以拍照所得的WD会发生微小的变化。

4、扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

透射电镜是用高能电子束（加速电压一般在200KV以上）照射样品，透过样品的电子由于样品厚度、元素、缺陷、晶体结构等的不同，会产生不同的花样或图像衬度，由此可以推测样品的相关信息。由于电子束要能透过样品，因此样品厚度要求很薄，一般要小于100纳米。如果要做高分辨，要求更薄。

5、请问大家，SEM样品都是如何进行前处理的？

用乙醇分散一下，然后涂在导电胶上，最后用洗耳球吹一下，把多余的吹掉

6、关于SEM扫描电镜的几个问题，求大神出现...

如果是即将开始学习仪器操作的管理人员，建议先系统学习理论知识，再找专业的仪器工程师培训。如果是学生，要使用电镜，从安全角度考虑，1、2、3几项通常是值机人员完成的。我可以简单的向你介绍一下：1、主要是电源，只要能正常开机，一般无问题；2、加高压前一般要达到额定真空，否则气体电离度大、损伤电子枪，但是电镜软件一般都已经设置好，不到工作真空，根本加不上去高压，所以只要能够加高压，也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，主要也是为了保护电子枪；3、样品台有它的额定移动距离，包括平面方向和上下方向，平面方向移动到极限时会有报警提示，看到提示往回移动即可。高度方向也如此，但是要注意向上移动时，要缓慢，要防止坚硬的试样撞击上方的探测器和极靴，损坏设备；4，电子束与试样作用，可激发出多种信号，如二次电子信号（用于形貌观察），背散射电子信号（用于区分微区成分)、俄歇电子信号(用于表面元素分析）、特征X射线（用于内部元素分析）、阴极荧光（用于发光材料研究），这些信号已经被有效的加以利用，这是一门独立的学科，若需要详细了解，你需要系统地学习一下。

7、sem上的工作距离会对图像放大倍数有影响吗

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8、环境样品磁性测量

环境样品磁性测量比较复杂，有的要在实验室外加强磁场测量人工剩磁，除此之外是测量样品的天然剩磁和磁化率。在古地磁研究中，还需要确定磁化强度的稳定性、居里点、饱和磁化强度和矫顽磁力。

4.4.2.1 环境样品磁化率测量

环境样品类似于土壤样品，不研究样品的磁化方向。

环境样品在外磁场中受感应，产生的磁化强度（M）与外加磁场（H）的比值（κ）称样品的磁化率。

环境地球物理学概论

环境样品的磁化率，可用体积磁化率（κ）和质量磁化率（χ）表示，两者的关系为

环境地球物理学概论

式中：ρ为物质的密度，g/cm3，χ单位记作SI（χ），m3/kg；它与CGS制的关系为χ（SI）=4π×10-3χ（CGSM）。

岩石或者环境样品的磁化率都是外加磁场的函数，只是在弱磁场中（即地磁场中），这种磁化才可以看成是线性的。在地球科学研究中，不仅研究岩石磁化率的数值，而且要研究磁化的方向性。

岩石或样品的磁性测量，原则上讲，凡能测量磁场分量的磁力仪，如悬丝式磁力仪，无定向磁力仪，磁通门磁力仪和卡帕桥等，都可以用来测量磁化率。只是所能达到的精度不同而已。

从测量方法来讲，测量岩石（或样品）磁性的方法主要有静态法和磁感应法。无定向磁力仪测量属静态法，激励场源为稳定场，卡帕桥测量属感应法，激励场源为交变场。其他测量方法，基本上由此派生。无定向磁力仪，灵敏度高（可达10-8），但对场地环境要求严格，受干扰因素较多，现在已经很少应用。

（1）卡帕桥仪磁化率测量方法

在地磁场中测量样品磁性，是比较方便的常用的磁感应方法。常用的仪器有捷克的KLY-1型，KLY-2型和KLY-3型以及我国的HKB-1型，KLY-2型和KLY-3型为数字式读数。主要用于测量岩石的磁化率。

仪器（以KLY-1型为例）主要由交流电桥组成，桥路由四个线圈S、S′、W1、W2构成四臂，如图4.4.1所示，S为测量线圈，测量样品放入其中；S′为平衡线圈，内有小的铁氧体，可上下移动，调节电桥的平衡，W1、W2是差动变压器的两个次级绕组；图中Am1、Am2、Am3为放大器；Dm为检波器，G为970Hz交变电压，M1、M2为读数显示装置。

打开仪器，在样品放入测量线圈之前，先要使用电位器P，调节电桥平衡，样品放入S后，电感增大，电桥失衡，再调节分压器Dr和电位器B，使电桥重新达到平衡，可以读出磁化率值。

测量之前要做好样品，环境样品准备与土壤样品准备类似，将风干之后的颗粒样品放入高4 cm，直径7～8 cm的无磁性材料制成的容器，一般为塑料或玻璃容器。装填要均匀，表面要平整，并称重量，记录容积。

图4.4.1 Kly-1型卡帕桥原理图

（2）磁通门仪磁化率测量法

使用的仪器为WCL-1型轻便磁化率测量仪，可以测量样品，也可现场测量，仪器为率表读数，测量范围为10×10-6CGSM～3CGSM，分辨率为5×10-6CGSM。测量样品一般装入高4 cm，直径为7～8 cm的塑料或玻璃盒内，进行测量。

4.4.2.2 天然剩磁测量方法

天然剩磁的测量仪器现在应用的主要是磁能门磁力仪，美国的DSM-1，2型数字旋转式仪，美国的Mini-Spin和WSW型无定向磁力仪。其中旋转式磁力仪应用较多。

旋转磁力仪的原理是在线圈内或磁通门系统附近磁化样品，连续旋转所产生交变电压振荡。输出电压的振幅正比于旋转轴垂直的磁矩分量，而电压的相位则利用被测分量的方向与样品的参考方向之间的关系来确定。总矢量可由样品绕第二个正交轴旋转得到，实际上是样品依次绕三个轴旋转以取得NRM所有分量的平均值，从而减少样品的非均匀性的影响。当标本绕z轴旋转时，可测得标本总磁矩U在xOy平面上的投影Uxy的大小及与x轴的夹角φyz与φzx，整理得标本的磁矩Uy和剩余磁化强度Mr。

环境地球物理学概论

由测得的相位角可计算Mr的偏角和倾角。

磁化率仪在测定岩石标本时，将标本放在有电流的线圈旁，由于磁感应能量的变化而产生附加电动势，从而测定岩石磁化率。磁化率仪只能测定岩石的磁化率，但测定快速方便，因而应用较广。

9、铁氧体永磁材料做SEM时，需要注意什么啊？

原文由fengyonghe(fengyonghe)发表:扫描电镜的试样即使是弱磁性的都不能做，更何况是铁氧体永磁材料。电子束被试样磁场偏转，会产生意想不到的结果。样品室可能被磁场污染。