1、检测玩xps还可以检测sem吗
当然可以的，XPS更注重表面分析及刻蚀分析，SEM扫面电镜可以观察形貌，两者互相佐证是可以的
2、请问SEM可以测液体吗？
我做过一些次SEM的液体样品，不过都是把液体样品放在样品盘上烘干之后，喷金，然后再做测试的，一般的 ，一点样品就够了，很少的计量 ，但是还是看浓度吧 ，我们的仪器不好，一般都是拿到理化分析中心测的
3、27岁工程检测转SEM该怎么找工作？
从网上找就行了
但是这工作需要好多企业都要有工作经验的
你要是新手容易被拒绝
可以先找个能接触到SEM的工作
边干边学积累点经验
4、磁控溅射做的薄膜能用SEM测试吗
可以的 不过做SEM的时候最好用导电或者半导体材料作为基底 如果用glass非导电基底要加上导电胶 而且容易在表面产生电荷看不清楚的
5、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
6、磁体可否做扫描电镜？
会有影响，最好退磁后观察。如果不退磁，需要测量磁体磁通量减小到接近零的距离，以这个距离来确定SEM WD, 当然WD越大分辨率越低，不过一般看个几千倍还是没问题的。如果是冷场发射扫描电镜，一般使用的是半内物镜，即物镜磁场在样品室内部，这就需要更加注意，即使退磁的样品也要保持在磁场之外，使用较大的WD,不退磁的样品工作距离要求更大。
如果未退磁，注意磁体不要吸附在物镜表面，或者极靴孔内，尤其粉末材料，也许都是微米级别的粉末，会造成固定象散，大幅度降低电镜分辨率，用户根本不知所措，需要非常专业人员拆卸物镜来特殊处理。如果被污染的电镜是进口的，请准备10万元人民币，他们大多在国内的维修工程师根本不灵，需要洋人亲自出马，所以有不幸扫描电镜被污染的客户，尤其是大学实验室，得了恐惧症，见到磁性样品就害怕，一刀切都不给做。COXEM Beijing Office的中国工程师有这个技术，收费也不低哦。
7、高分子材料测sem可以不用脆断吗
高分子材料测sem可以不用脆断
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。