1、高分子材料测sem可以不用脆断吗
高分子材料测sem可以不用脆断
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
2、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
3、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
4、扫描电镜（SEM）测试是怎么收费的
扫描电镜（SEM）测试各地不一样的，最少的也要几百块啊
5、请问SEM可以测液体吗？
我做过一些次SEM的液体样品，不过都是把液体样品放在样品盘上烘干之后，喷金，然后再做测试的，一般的 ，一点样品就够了，很少的计量 ，但是还是看浓度吧 ，我们的仪器不好，一般都是拿到理化分析中心测的
6、Sem可以测非金属吗
老兄，你是说的扫描电子显微镜还是sem网络的优化呢?
前者可以运用到生物医学动物材料化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥等等至于后者根据我3年的从业经验，对于推广还是感觉百度的本地直通车还行。
7、SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。