1、求大神帮解说一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理 本人零基础 大体了解一下
SEM是扫描电子显微镜，最高可放大至20万倍左右，用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪，是每种元素对应的电子能不同，来鉴别元素，通常是和SEM结合使用，也就是说在SEM上安装EDS附件，在观看形貌时，选择一定区域用EDS打能谱，也就知道了该区域的元素组成。XRD是X射线衍射仪，其原理是高压下，阴极发出的电子形成高能电子束，轰击阳极靶材（通常是Cu），靶材的内部电子能量升高，被激发出来，当它回到基态的过程中，多余的能量以X射线、俄歇电子等形式释放出来。XRD收集的是其中的X射线，X射线扫到样品上，会根据布拉格方程产生衍射角，衍射峰。每种物质(不同样品)的衍射峰不同，因此通常用来鉴别物相，也会根据峰面积算半定量。
2、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀？帮帮忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜
EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜
STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜
AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜
XRD：X-ray diffractionX射线衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱
3、XRD与EDS有什么区别？求大神
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。
SEM用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样 品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。
EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。
XRD是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。
说简单点，SEM是用来看微观形貌的，观察表面的形态、断口、微裂纹等等；EDS则是检测元素及其分布，但是H元素不能检测；XRD观察的是组织结构，可以测各个相的比例、晶体结构等。
4、SEM -EDS是什么意思 小木虫
SEM(scanning electron microscope)：扫描式电子显微镜
EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：X光微区分析
5、扫描电镜和透射电镜的EDS对分析样品的成分有什么不同？
SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。
6、EDS及XRD的区别有哪些内容？
1、EDS是针对复一些元素的制含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。
2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。
特点：
（1）能快速、同时对各种试样的微区内Be-U的所有元素，元素定性、定量分析，几分钟即可完成。
（2）对试样与探测器的几何位置要求低：对W.D的要求不是很严格；可以在低倍率下获得X射线扫描、面分布结果。
（3）能谱所需探针电流小：对电子束照射后易损伤的试样，例如生物试样、快离子导体试样、玻璃等损伤小。
（4）检测限一般为0.1%－0.5%，中等原子序数的无重叠峰主元素的定量相误差约为2%。
3、XRD，X射线衍射是测定晶体结构的。X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，分析材料的成分等。
7、XRD、IR、SEM、EDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤（材料测试技术里面的）
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息
TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成
FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等
Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。
CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压
EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息
BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。
XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱
8、请问XRD和XEDS有什么区别啊？分别都是测什么东西的？非常感谢
。。。。。。。。 汗一个 俺也不知道 惭愧zhangguang(站内联系TA)XRD叫X射线衍射，可以用来鉴别物性，通常测量其衍射峰，再配合卡片，对物质定性。对已知物质可以测量其晶格变化。
XEDS叫X射线能量散射能谱，主要来分析物质的组成成分。ldy3817(站内联系TA)Originally posted by zhangguang at 2008-12-1 11:48:
XRD叫X射线衍射，可以用来鉴别物性，通常测量其衍射峰，再配合卡片，对物质定性。对已知物质可以测量其晶格变化。
XEDS叫X射线能量散射能谱，主要来分析物质的组成成分。 一般来说，叫物相的比较多，比如氧化铝大概的物相有十几种，你只能用衍射的方法去测，测化学成分测不出差别！dengyfd(站内联系TA)哈哈 二楼的话太经典了！！！！！！！！！！！！！！！！waiy2001(站内联系TA)哎，我觉得二楼说话有点过份，在别人看来他那点知识也许连入门都不是，别人能否这样说他呢？任何时候，都不能侮辱人的人格.ookklc(站内联系TA)谢谢啊，牛人！ldm8802(站内联系TA)XRD测物相组成以及相结构分析；XEDS用于元素组成分析，在扫描电镜和透射电镜上一般都配有能谱仪（EDS）或波谱仪（WDS）。itilyfe(站内联系TA)三人行。必有你师。谢谢。终于有热心朋友也解了我的惑了。:DSasa823(站内联系TA)XRD是X射线衍射 通过衍射峰的位置和强度可以判断晶体属于那种类型的物质 及其结晶度 而EDS是能谱 可以分析包含的元素及组成泥巴520(站内联系TA)EDS XRD 常用的设备 做合金 陶瓷 这个用的最多 一个元素 一个结构