为什么材料做SEM消失

1、有谁做过碳化硅陶瓷的表面腐蚀? （为了做SEM 看材料的晶粒）

抛光后的SiC样品，置于沸腾的Murakami溶液中进行腐蚀。Murakami溶液：10gKOH+10gK3[Fe(CN)6]+100mlH2O

2、SEM薄膜样品如何减少基底材料信号干扰

SEM做测试的时候采用比较低的场发射电压或者比较低的电子加速电压，比如用2kV试试看。

或者喷金的时候考虑适当的将金层加厚

3、铁氧体永磁材料做SEM时，需要注意什么啊？

原文由fengyonghe(fengyonghe)发表:扫描电镜的试样即使是弱磁性的都不能做，更何况是铁氧体永磁材料。电子束被试样磁场偏转，会产生意想不到的结果。样品室可能被磁场污染。

4、高分子材料测sem可以不用脆断吗

高分子材料测sem可以不用脆断
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

5、sem和tem都可以用来分析材料的显微结构，其原理和应用特性各有什么迥异

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。
样品制备：
通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。
SEM是利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。

6、哪位大侠知道看SEM时把材料分散在什么溶液中比较好？

sem的结果与分散无关，粉末就可以做，没必要分散

7、材料只做sem不做xrd可以吗

?

8、电镜分析结果为什么得到的不是纳米材料，而是微米级别的

求教二氧化钛SEM图分析.

纳米材料为什么SEM单位是μm啊 这得多啊!

顺便帮忙分析分析这个图谢谢 答的好的加分

扫描电镜作为材料分析上一种常用的仪器,它的主要目的还是观察你做出的材料形貌.因为你说是纳米材料,其实纳米材料不一定只有几个纳米,我印象里几十甚至上百纳米的都可以叫做纳米材料.你这个图里的微米单位,应该是给你一个量度,好像就跟地图上的比例尺差不多.
你这个图主要还是根据SEM的图来表征下你所做出的纳米材料的特性,比如材料呈球形,尺寸在多少个纳米之间,材料颗粒之间有没有团聚现象之类的.

9、陶瓷材料做SEM时为了看清晶粒生长情况，要先进行热处理，热处理温度一般比烧结温度低多少？非常感谢！

不同温度下晶粒生长情况不同的，一般要查看烧结后晶粒状况的话，要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况，您可以用不同温度对样品进行热处理，然后分别送样，这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。不过这样做很费钱。可以考虑做差热。

10、拍SEM照片，材料喷过金的表面如何去除？

镀上去的金和你的材料几乎是没有什么结合力的。 一擦就下来了。