sem电镜图片下面

1、求大神帮忙分析下SEM扫描电镜图片

确实没有任何”大神“能够分析你提供的图片。要分析一张电镜图片有很多前提：你所分析的对象是什么？目的是什么？在什么条件下取样？在什么情况下取照？照该视场的目的想说明什么？~~等等等等。否则，一张微观世界里的照片，你能够指望别人评论什么？
看来，你还是比较外行。
如果你是真心想要提问，请将照片的具体情况交代清楚，好吗？

2、扫描电镜照片和投射电镜照片怎么区分？

扫描copy电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。
一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。

3、扫描电镜观察的锂离子电池材料图片，求解释最下面一行各字母和数字的含义

SE 指这是二次电子检测器成的像（二次电子像）
WD 5.3mm 指工作距离为5.3mm （样品表面到物镜的距离大约5.3mm）
x1.0k 指这时的标称放大倍数为1千倍
50um 是指标尺长度为50um，即每一小格为5um

4、请问怎样看扫描电镜的照片啊？

SEM看的是形貌（好像是morphology）。就是从形貌上找你所需要的信息。比如，多孔，或者晶形很好等等。如果你所要求的结果和形貌完全不搭边，就没有看SEM的必要。
最简单的方法是，找几篇和你的物质有关的文献－－当然要做过SEM表征的。对比一下。否则，可能你连自己的哪些形貌是代表哪些物质都不知道。完全不了解的情况下，而你的样品又含好几种化合物，就很不好办了。嗯，尺度信息也很重要。
SEM的分析还是需要经验的，你可以多请教一下做电镜的老师。他们经验多。

5、扫描电镜所照的图片，图片右下角的—50微米表示什么意思

是bar的意思，标尺。
因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道。

希望能帮到你！

6、大家帮我看看扫描电镜图片是怎么回事

lamb8963(站内联系TA)这个是固定大小下清晰的图片ypf13(站内联系TA)你是不是用Photoshop修改了啊修改也行，但是保存的时候，别用压缩，就不会出现网格了maqin909(站内联系TA)放大倍数太小了，探头工作距离能不能在小一点啊！还有你的工作电压！这些都能影响你的图片质量的！怎么图上看不到工作电压啊？一般都是20kV吧！colorsunny(站内联系TA)你使用Photshop，创新设置图片的大小，分辨率。你目前的效果有些差maqin909(站内联系TA)样品喷完金后，放在样品台的时候，找对所测样品没？你所指的放大和缩小是不是照完后的照片啊？maqin909(站内联系TA)我猜测可能是没找对样品的位置！不知道你这张图是SSD探头还是ETD探头？不用给金币了！能帮忙就帮了！:):):)lamb8963(站内联系TA)继续请高手指点！maqin909(站内联系TA)要实在不行的话，你就在网上找一个抓图软件，把你所需要的图给抓下来，然后在调分辨率！我给你推荐个软件：Snagit！kilikf(站内联系TA)扫描电镜图片最好不要修改。把你原始的清晰图片传上来看看吧～～ 后面那张是原始清晰的图片！

7、如何获得清晰的扫描电镜（SEM）图像

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金
2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下
3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内
4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

8、SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

(8)sem电镜图片下面扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。