1、聚合物薄膜材料，观察其断截面，怎么样制备SEM样品？说详细点
我这边做一般采取如下两种方案：
1.用手术刀片切，然后贴在电镜台子上；
2。快速冷冻，然后粉碎，分散在导电胶带上。
2、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
3、我做的薄膜SEM与XRD试验，图片与数据不会分析，跪求准确分析？
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4、怎么用SEM看薄膜截断面
针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：
献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。
第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
希 望 采 纳 不 足 可 追 问
5、如何用SEM看ZnO薄膜
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6、磁控溅射做的薄膜能用SEM测试吗
可以的 不过做SEM的时候最好用导电或者半导体材料作为基底 如果用glass非导电基底要加上导电胶 而且容易在表面产生电荷看不清楚的
7、求助制备薄膜的SEM截面的问题
对了，还有一种是针对液体样品的，快速冷冻法，简单说就是液体样品放在液氮中快速冷冻，通过特殊的装置，转移到过渡舱中，再喷金，再转入观察仓。以上三种制备方法基本就全了。这个还需要你多多练习，基本方法就是这些。
8、SEM薄膜样品如何减少基底材料信号干扰
SEM做测试的时候采用比较低的场发射电压或者比较低的电子加速电压，比如用2kV试试看。
或者喷金的时候考虑适当的将金层加厚