1、SEM 可以测成分吗
这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。
2、扫描电镜（SEM）能测出晶型吗
理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。
不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶型）。另外，SEM通过加装EBSD附件，通过观察也有可能观察晶型
3、扫描电镜（SEM）测试是怎么收费的
扫描电镜（SEM）测试各地不一样的，最少的也要几百块啊
4、请问SEM可以测液体吗？
我做过一些次SEM的液体样品，不过都是把液体样品放在样品盘上烘干之后，喷金，然后再做测试的，一般的 ，一点样品就够了，很少的计量 ，但是还是看浓度吧 ，我们的仪器不好，一般都是拿到理化分析中心测的
5、sem扫描电镜测量需要多长时间
?
6、纳米材料在测SEM时要怎么分散的更好些？
对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。
具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。