导航:首页 > 网络营销 > 硅纳米颗粒能用sem看么

硅纳米颗粒能用sem看么

发布时间:2020-11-23 12:29:43

1、纳米材料在测SEM时要怎么分散的更好些?

对于零维和一维纳米材料,SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂,超声波分散,离心沉淀后用吸管取上清液,滴在干净的硅片或载玻片上,干燥后用导电胶带粘取。
具体沉淀时间或离心机的参数,需要多做几次试验,针对不同的材料特点,选择好的条件。

2、金纳米颗粒在做扫描电镜喷金后还能看见吗?

关键看你的金颗粒尺度有多大?如果10nm以下,就很困难,10nm以上,如果不是镶嵌在其他材料中,就可以。SEM 喷金镀膜一般10nm的金晶体可连续成膜,镀膜可复制底层形貌。

3、30nm聚合物纳米颗粒sem能不能拍清楚

一种是统计学方法,通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值;另外一种方法是计算法,利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。

4、你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··

其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成,可以输出完整的粒径分布曲线报告。
另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了,基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片,必须保持分散液状态来做电镜扫描。

5、sem测试纳米粒子在树脂中的分散用固化好的树脂还是未经固化的

1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时,药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近,以利于混合均匀,尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物,必须慎重选择各种辅料。

2、不溶性润滑剂须最后加入用于粉末直接压片的不溶性润滑剂一定要最后加入,即先将原料与其它辅料混合均匀后,再加入不溶性润滑剂,并且要控制好混合时间,否则会严重影响崩解或溶出。另外,以预胶化淀粉、微晶纤维素等为辅料时,硬脂酸镁的用量如果较多且混合时间较长,片剂有软化现象,所以一般用量应在0.75%以下,而且要对混合时间、转速及强度进行验证。

3、混合后要进行含量测定与常规湿法制粒的生产工艺一样,进行粉末直接压片的各原辅料混合后要进行含量测定,以确保中间产品和成品的质量符合规定标准。

4、小试后须进行充分的试验放大一般情况下,用粉末直接压片工艺压制的不合格片剂不宜返工。因为返工须将片剂重新粉碎,粉碎后物料的可压性会显着降低,以致不适于进行直接压片。所以,从小试至大生产,必须进行中试,并经过充分的验证,且中试应采用与以后大生产相同类型的设备,以使确定的参数对大生产有指导作用。

5、微晶纤维素的使用片剂硬度和脆碎度不合格时,可以加入微晶纤维素,其用量可高达65%;还可以采用先压成大片,然后破碎成颗粒,再行压片的方法,可得到满意的结果。

6、及时处理压片中的异常情况在压片过程中,应按标准操作程序及时取样,观察片剂的外观及测定片重差异、硬度、脆碎度、崩解时间、片厚等质量指标,并观察设备运行情况,出现异常情况应及时报告并采取应急措施,详细记录异常现象和处理结果,进行详细的分析,以确保产品质量。

6、纳米材料sem相比于afm是不是更容易聚集

xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----回答的不是

与硅纳米颗粒能用sem看么相关的知识