1、SEM EDS相对质量分析
你当然可以这么做，只是误差比较大。
实际一般情况我们只需要知道相对量就好了，并不需要这么精确的数值。
如果确实需要精确数值，那需要标定，毕竟不同元素的响应值区别还是很大的。
实际上，你的ZSM-5的硅铝比就能验证，SEM数值跟化学法数值差距还是很大的；但这并不妨碍很多人直接用SEM数据表征他们样品的硅铝比
2、EDS分析求助
1. 可以。无论是SEM还是TEM均可，只是多数情况下，EDS采用无标样定量，定量分析结果是半定量的，不能作为决断性证据，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很简单，EDS能谱都有直接定量分析的功能，为了准确，你可以多点分析（大于20个点），取平均值。2. 一个点的分析区域对于通常的SEM区域是以电子束束斑为大小的圆斑，往下是一个梨形扩展区，通常会有几个立方微米的空间，但如果只是一个单分散的纳米颗粒，下面没有其他干扰，分析区域可以准确到电子束斑大小。对于TEM，则和后面的那种情况相同。顺便说一下：在EDS采集样品信息时，一般建议用取点分析，而不是取框，因为如果不做设定，通常一个点的分析时间和一个框的总分析时间相同，那么一个框的分析时间平均到每个区域点，会使采样时间极其短暂，从而影响定量结果的准确性（信号量不足会影响少量元素组分的定量）。
3、SEM+EDS分析是什么意思啊? 全称是什么?
SEM(scanning electron microscope)：扫描式电子显微镜
EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：X光微区分析
4、如何利用扫描电镜对粉体材料进行能谱分析?
直接往颗粒表面，你感兴趣的地方打！
如果你想测试平均成分，你选错设备了！
5、请大家帮忙推荐几本关于扫描电镜+EDS进行异物分析的书籍，日语或英语的也行
在谷歌上搜一搜，英文的不少。国内张大同著，扫描电镜能谱应用值得看看，很容易搜到。
这些作者都是具有深厚材料科学知识背景，将一般通用的应用技术分享给大家。
关于你们的具体分析方向，我从这个角度讲一下：分析仪器用于分析某个非常具体的分析项目，往往需要花费很多功夫，研究分析方法，这个分析方法是可以注册专利的。要你说，别人会随便告诉你吗？很多时候，跨国企业研究中心，有什么仪器都不轻易告诉你，更不要提分析方法了。
---我从厂商应用工程师的角度【酷塞目-中国 驰奔】看这个问题。培训都是一般应用分析方法。
---你们的项目有点类似扫描电镜能谱在刑侦方面，枪击残留物分析；也类似洁净钢技术里的夹杂物分析；也类似矿石中不同矿物含量分析；严格的说，你们的分析属于洁净度分析。这些领域应用非常狭窄，具备这些深厚专业背景的人，将分析方法做成软件，将其结合到电镜能谱系统中，就能成立公司，来卖这个产品。
6、sem-eds 分析元素 只是表面的吗
eds是一种表面微区分析的表征手段，它的作用深度大概是样品表面1微米左右
7、SEM+EDS分析是什么意思
S
8、扫描电镜和透射电镜的EDS对分析样品的成分有什么不同？
SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。