1、聚合物薄膜材料，观察其断截面，怎么样制备SEM样品？说详细点
我这边做一般采取如下两种方案：
1.用手术刀片切，然后贴在电镜台子上；
2。快速冷冻，然后粉碎，分散在导电胶带上。
2、请教：关于聚合物TEM染色的问题
GPC：测试高分子的分子量及分子量分布指数 SEM/TEM/AFM：表征材料的表面形貌(注意原理不同) FTIR：定性分析高分子含有的基团 NMR：定量分析聚合物的结构 UV-vis：可定量计算共聚物单体的个数 Dls：表征高分子溶液粒径 Lls：表征高分子溶液分子量。
透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.\x0dSEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.\x0d扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐
3、30nm聚合物纳米颗粒sem能不能拍清楚
一种是统计学方法，通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值；另外一种方法是计算法，利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。
4、聚合物想测SEM，如何制作样品？
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。