1、请教：关于聚合物TEM染色的问题
GPC：测试高分子的分子量及分子量分布指数 SEM/TEM/AFM：表征材料的表面形貌(注意原理不同) FTIR：定性分析高分子含有的基团 NMR：定量分析聚合物的结构 UV-vis：可定量计算共聚物单体的个数 Dls：表征高分子溶液粒径 Lls：表征高分子溶液分子量。
透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.\x0dSEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.\x0d扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐
2、聚合物共混的形态
你说的应该是聚合物共混物的“微观”形态结构吧？宏观的，就自己眼睛看。。
一般微观结构用的比较多的是SEM和TEM（就是扫描电镜和透射电镜），如果还不行还可以用相差电镜或者原子力（AFM）。
一般SEM最常用，共混之后压片，如果看内部结构，在液N中淬断，SEM看断面形态。如果看表面就直接后压片后看。看SEM一般都要先喷金。原理我就不想说了，自己去搜吧，二次电子。。。。了解了原理其实也没什么帮助。
SEM一般看聚合物填充粒子之类的东东。只不过有些时候SEM看不出来什么东西，比如两种聚合物有两相结构之类，这时可以用TEM，做超薄切片，然后染色，看两相形态。也可以用相差，如果两相硬度差别很大，也可以用AFM。只不过AFM制样要求很高，聚合物一般表面做不到这么平。
3、聚合物薄膜材料，观察其断截面，怎么样制备SEM样品？说详细点
我这边做一般采取如下两种方案：
1.用手术刀片切，然后贴在电镜台子上；
2。快速冷冻，然后粉碎，分散在导电胶带上。
4、30nm聚合物纳米颗粒sem能不能拍清楚
一种是统计学方法，通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值；另外一种方法是计算法，利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。
5、有机聚合物多孔材料的SEM制样.求助
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6、聚合物想测SEM，如何制作样品？
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。