sem测量晶粒度

1、带有孪晶的晶粒度如何测量-用截距法

同求，纯铜，磷脱氧铜等热处理后都会出现孪晶情况，晶粒测量该如何，还有晶粒长轴和短轴在晶粒尺寸区分的时候又该怎样处理呢？求专家解答

2、晶粒度测定用什么设备?

金相显微镜
X射线衍射仪

3、晶粒度和晶粒尺寸的测量

建议你认真看一下GB/T6394-2002,里面讲的十分详细。

4、【求助】如何计算晶粒度

最好说一下你的样品是什么样子的，等轴的，非等轴的都不一样，详细点说就是整个标准读一下cqw007(站内联系TA)我是做硬质合金的，怎么测量？xufengneu(站内联系TA)扫描截距法测量WC的晶粒度啊风雨过后(站内联系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜谢乐公式应该可以计算出来，就不用量了:D:Dsunggcc(站内联系TA)先做XRD分析，然后根据德拜谢乐公式算。有的不用自己算，可以直接得到数据。jic8417(站内联系TA)照个X射线，用XRD分析软件一弄就出来了。nofail(站内联系TA)用XRD是个好办法，不过要记得谢乐公式的使用范围，lz的晶粒度范围可能不在此公式内cqw007(站内联系TA)Originally posted by xufengneu at 2010-09-14 16:54:51:扫描截距法测量WC的晶粒度啊 能说具体些吗？sourbing(站内联系TA)XRD分析的晶粒度准确么？至少我不认同，不如金相直观，而且对于一个样品，平均晶粒度是指整个视场下的平均衡量，除非你能保证晶粒度均匀，否则xrd局限性很大，况且算出来的不如直观的。在金相显微镜下观察晶粒形貌，如果是等轴的，按平均晶粒度标准上的比较法，和标准图谱进行比较，类似几级就是几级，比较就是选定一个能代表整个样品晶粒度的视场和标准图比。如果不是等轴的，说白了就是晶粒大小差别很大，可以采用面积法或截距法来做，具体标准上有很详细的说明。如何通过XRD测晶胞参数、晶粒度等啊

5、渗碳法测晶粒度的具体方法是什么

回复 1# 含碳量小于0.25%碳素钢和合金钢,尤其是渗碳钢采用渗碳法显示奥氏体晶粒度.对于含碳较高的钢不使用渗碳法,除非另有规定,渗碳试样热处理在930℃＋10℃,保温6 h,必须保证获得1 mm以上的渗碳层,渗碳剂必须保证在规定的时间内产生共析层,试样以缓慢的速度炉冷至下临界温度以下,足以在渗碳层的过共区的奥氏体晶界上析出渗碳体网,试样冷却后切取新切面,经磨削和腐蚀,显示出过共析区奥氏体晶粒形貌。

6、陶瓷材料做SEM时为了看清晶粒生长情况，要先进行热处理，热处理温度一般比烧结温度低多少？非常感谢！

不同温度下晶粒生长情况不同的，一般要查看烧结后晶粒状况的话，要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况，您可以用不同温度对样品进行热处理，然后分别送样，这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。不过这样做很费钱。可以考虑做差热。

7、金相组织的晶粒度

【001】金属平均晶粒度测定 … GB 6394-2002
【010】铸造铝铜合金晶粒度测定…GB 10852-89【019】珠光体平均晶粒度测定…GB 6394-2002
【062】金属的平均晶粒度评级…ASTM E112
【074】黑白相面积及晶粒度评级…BW 2003-01
【149】彩色试样图像平均晶粒度测定…GB 6394-2002
金相组织，用金相方法观察到的金属及合金的内部组织。可以分为：1.宏观组织，2.显微组织。

8、bet中测量的数据如何计算晶粒尺寸

纳米材料的界面分析

物质的尺寸到了纳米级别后由于表面电子能级的变化,导致纳米材料具有许多奇特的性能,从而使其具备奇异性和反常性,能使多种多样的材料改性,用途极为广泛. 纳米效应包括的表面效应，量子尺寸效应，体积效应，宏观量子隧道效应界面相关效应等

表面效应

纳米材料尺寸小.表面能高,位于表面原子占相当大的比例,随着原子粒径的减小,表面原子数目迅速增加,原子配位数不足和高的表面能使这些原子具有高的活性.极不稳定和容易与别的原子结合.

量子尺寸效应

能级间距随着原子尺寸的减小而增大,当热能磁场能和电场能比平均能级间距还小时,就会呈现和宏观物体截然不同的特性称为量子尺寸效应.

体积效应

当超细微粒的尺寸和波长与光波波长和的布罗意波长等物理尺寸相当或更小时,晶体周期性边界条件被破坏,导致声,光,电磁,热力学等特征方面出现一些新的变化.

宏观量子尺寸效应

是指纳米颗粒具有贯穿是累的能力，界面相关效应,纳米结构材料中有大量的界面,具有反常高的扩散率,比如纳米铜材料的超塑性.

纳米材料是处在0.1—100nm尺寸范围内，用肉眼和普通显微镜难以观测其显微结构。纳米微粒尺寸的表征，由于实验手段的不一，采用的表征技术各异，各种方法间有一定的差异。这里，我们来描述几种表示方法。

一、X射线法

在多相催化的催化剂研究中，往往需要对催化剂的活性组分及载体进行晶粒大小测定，因为催化剂的性能如活性、选择性、比表面积、孔容、强度及寿命等都直接与其晶粒大小有着密切的关系。在研制新催化剂制备工艺条件或对已使用过的催化剂了解其物性变化、机械强度、失活原因等，也需要考虑其晶粒大小的变化，所有这些都需要晶粒大小的测定。

电镜观察法测量的是颗粒度而不是晶粒度，X-射线衍射线宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。它具有简便、快速和直观的优点。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度；当颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度。

许多物质实际上是由许多细小晶体紧密聚集而成有二次聚集态，这些细小的单晶称为一次聚集态，即晶粒。当晶粒在200nm以下，晶粒中晶面数目减少，衍射线条弥散而产生明显的宽化，晶粒越小，衍射线条的宽化越严重，使衍射强度在2θ+Δθ范围内有一个较大分布。当晶体内不存在应力和缺陷时，可以利用晶粒大小与衍射线宽化程度的关系来测量

9、截点法怎么测量晶粒度

你可以百度一下苏州欧卡精密光学仪器，他们是专业制造金相分析仪的，开发的金相软件多大几千种模块涉及各类金属材料的金相组织，软件自带金相自动评级，图谱对照评级，测量功能等等。是同类设备中质量、性能等都处于领先地位的。价格是在同类设备中处于性价比相当高的地位。同时还提供上门安装培训，由专业的老师（热处理协会）进行专业的培训教课。可根据自身需要进行1天到几个星期的培训时间选择。全国范围内都可享受提供的上门服务。

截点法就是将处理好的模块，通过腐蚀后，在放在金相分析仪下面可以看到金属的金相组织，如铜的晶粒度，呈现出一个个小的不规则的晶粒（形状不规则，三角菱形等）。然后随即选择多个经线清晰的晶粒（以一个晶粒的对角线的两条交叉线为一个晶粒测量），最后以测量的几个晶粒的平均值为基准，在去对照表格找到相应的级别。