1、请问大家，SEM样品都是如何进行前处理的？
用乙醇分散一下，然后涂在导电胶上，最后用洗耳球吹一下，把多余的吹掉
2、测扫描电镜需要制成悬浊液吗，我想观察样品的形貌，测SEM还是TEM好？
一般都是需要分散的，否则容易团聚在一起，看不清楚形貌。当然如果你的样品与乙醇有反应就算了。
如果仅仅是观测形貌，SEM就可以，只要粒径不是小到需要高分辨的程度。如果需要对晶体结构有所了解，最好还是做TEM。粉末样品还是比较容易制备的。
3、为什么我的样品滴到硅片上测sem能谱还是能检测到碳
SEM扫描电镜扫描电镜制备品品溶解用溶溶剂进行散铺云母片或者硅片溶剂晾干或烘干再测
4、扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
透射电镜是用高能电子束（加速电压一般在200KV以上）照射样品，透过样品的电子由于样品厚度、元素、缺陷、晶体结构等的不同，会产生不同的花样或图像衬度，由此可以推测样品的相关信息。由于电子束要能透过样品，因此样品厚度要求很薄，一般要小于100纳米。如果要做高分辨，要求更薄。
5、聚合物想测SEM，如何制作样品？
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。
6、请问SEM可以测液体吗？
我做过一些次SEM的液体样品，不过都是把液体样品放在样品盘上烘干之后，喷金，然后再做测试的，一般的 ，一点样品就够了，很少的计量 ，但是还是看浓度吧 ，我们的仪器不好，一般都是拿到理化分析中心测的
7、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
8、在表征塑料样品时，有没哪种SEM是不需要喷金的呢？
采用低真空模式或环境扫描模式
9、钨灯丝扫描电镜SEM可以测试低碳钢样品么？
钨灯丝测试低碳钢样品可以找专业检测机构