1、在测量热重实验中为什么要先研磨后称重？为什么不能先称重后研磨？研磨和称重不都在研钵中进行吗？
你们的操作和我们的不一样，我记得我们用的是分析天平，量程比较小，精度比较高，所以都是研磨好了以后用称量纸称取，倒入热重专用坩埚里面，纸上的残留可以忽视，或者用差减法算出来也行。
2、测红外时为什么要求将固体试样研磨至颗粒粒度小于2μm左右?
因为一般测量红外光谱是用的中红外波段，中红外光的波长在2.5 ～ 25μm，如果固体试样颗粒粒度与波长相当，则红外光很容易产生衍射，影响信号。
3、要看孔径，sem是切片好还是磨粉好
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4、用土壤筛做土壤粒级分析需要先研磨土壤吗 这样会不会改变粒径分布
磨土肯定是要的，通常粗砂粒的上界是1mm,而沙粒的下界粉粒的上界是0.05mm,而用筛分法只能到砂粒这个级别，更细的粉粒、粘粒就不能用筛分法分析了，要用其他特殊方法了。从这个角度看研磨并不会影响到粒径分布。事实上做粒级分析，首先要看你用的是哪一种粒级制，不同粒级制对应的土粒概念以及前分散处理是不同的。从分析的角度来说，粒级中的土粒是指单粒，前处理就是要把复粒全部分散成单粒，而这个一般的机械研磨影响有限，在水利、土工等部门实验中也并不严格要求完全分散，因而分析所得的各个粒级均是单粒和复粒的混合物。所以要看你具体的分析目的是什么，参考相应的行业标准，按规范操作就可以了。
5、高分子材料测sem可以不用脆断吗
高分子材料测sem可以不用脆断
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
6、化学方程式中研磨是条件吗
不是，因为一般化学反应都要求固体反应物呈粉末状，这样可以增大反应物面积，加快反应速率
7、拍SEM样品能否研磨
最好不要研磨，因为研磨之后又可能破坏样品的表面形貌，从而不能获得真实的形貌信息。
8、请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。