1、鈦合金氧化膜做SEM需要鍍金嗎
表面機械強化 工業採用機械處理清理、強化及光整金屬表面噴丸處理、滾壓加工、內孔擠壓及磨光拋光等其噴丸處理、拋光處理產應用廣泛 （）噴丸處理 噴丸處理利用高速噴射沙丸或鐵丸工件表面進行強烈沖擊使其表面發塑性變形達強化表面改變表面
2、磁控濺射做的薄膜能用SEM測試嗎
可以的 不過做SEM的時候最好用導電或者半導體材料作為基底 如果用glass非導電基底要加上導電膠 而且容易在表面產生電荷看不清楚的
3、請問SEM能透過1um透明膜看到膜層下面另外一層薄膜的表面細節嗎？
SEM利用二次電子成像進行分析的。。一般掃描電子束產生二次電子的作用距離只有幾nm到幾十nm..所以是看不了底層圖像的。。
4、用SEM測超薄薄膜厚度，如何制樣才能保證導電性足夠好？
SEM？FSEM的話，勉強可以看到，會漂移的很厲害，噴金可以改善導電性 查看原帖>>
麻煩採納，謝謝!
5、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
6、柔性拉膜是什麼東西，由什麼做成的？
一般稱為柔性布或柔性天花，拉膜採用特殊的聚氯已烯材料製成， 0.18 毫米厚，其防火級別為 B1 級。軟膜通過一次或多次切割成形，並用高頻焊接完成。
7、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。