1、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全稱和中文名稱是什麼呀？幫幫忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射電鏡
EDS:能量彌散X射線譜（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope掃描電子顯微鏡
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope場發射掃描電子顯微鏡
STM:scanning tunneling microscope掃描隧道顯微鏡
AFM：Atomic force microscopy原子力顯微鏡
XRD：X-ray diffractionX射線衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射線光電子能譜
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立葉紅外光譜儀
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可見吸收光譜
2、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
3、SEM STM TEM 有什麼區別？？？？
SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品，觀察內部結構STEM是掃描透射，是掃描電鏡裡面的一個功能，可以說是山寨版的TEMSTM是掃描隧道顯微鏡，具體功能不太清楚了。
4、掃描電鏡和透射電鏡的區別
掃描電鏡和透射電鏡都是看物體形貌的材料測試手段，不同的是掃描電鏡收集的是二次電子也就是電子束反射回來的信息，透射電鏡收集的是電子束透過的信息。透射電鏡的解析度要比掃描電鏡大，同時透射電鏡還可以檢測物質的相結構已經晶型（多晶，單晶），而掃描電鏡不可以
5、請問SEM，STM，AFM在應用上的區別
SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品,AFM一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
6、stm與afm的比較
又沒有可能SiO2的探針太脆了呢？
7、請問AFM和STM做表面分析有何區別？各有什麼側重？
。我們學校分析中心STM的tip都不準備了，先測一個看看效果吧，這兩個解析度啥的有點小區別，但沒那麼大影響，AFM應用面更廣一點，先試試看吧，有的樣品就是不太適合做這個的starissim(站內聯系TA)STM需要材料導電，所以需要導體或半導體，或是非常薄的絕緣層。AFM則沒有這種限制了，到AFM只能用來看型貌，沒有什麼物理。STM可以做隧道譜，物理上很重要walkerby(站內聯系TA)AFM吧，既能測形貌，也能給出膜厚啥的。。。