sem能譜和xps區別

1、XPS和EDS有什麼區別

edx:energy
dispersive
x-ray
fluoresence
spectrometer
能量色散x射線熒光光譜儀
eds:energy
dispersive
spectrometer
能量色散譜儀
edx是熒光分析，eds是能譜分析，後者不是x射線能譜儀，如果想准確定量，可以考慮化學分析，xps,或者俄歇分析(aes)，xps和aes對表面含量較為適合。
要看你應用在哪一方面.如做表面元素分析的話建義你有eds或xps.

2、EDX,EDS，XPS,AES的異同

您好：
以下方法供您參考：EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer
能量色散X射線熒光光譜儀
EDS:Energy Dispersive Spectrometer
能量色散譜儀
EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，後者不是x射線能譜儀，如果想准確定量，可以考慮化學分析，XPS,或者俄歇分析(AES)，XPS和AES對表面含量較為適合。

3、xps圖具體分析方法

XPS（X射線光電子能譜分析）分析方法包括：

1、元素的定性分析，可以根據能譜圖中出現的特徵譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。

2、元素的定量分析，根據能譜圖中光電子譜線強度（光電子峰的面積）反應原子的含量或相對濃度。

3、固體表面分析，包括表面的化學組成或元素組成，原子價態，表面能態分布，測定表面電子的電子雲分布和能級結構等。

XPS的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。以光電子的動能/束縛能為橫坐標，相對強度（脈沖/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。

(3)sem能譜和xps區別擴展資料：

X射線光電子能譜分析的依據：

XPS主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由於X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那麼通過人體後的X射線量就不一樣。

這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息，在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大差別，因而在熒光屏上或攝影膠片上(經過顯影、定影)將顯示出不同密度的陰影。

根據陰影濃淡的對比，結合臨床表現、化驗結果和病理診斷，即可判斷人體某一部分是否正常。於是，X射線診斷技術便成了世界上最早應用的非刨傷性的內臟檢查技術。

4、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全稱和中文名稱是什麼呀？幫幫忙啦。。。

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射電鏡
EDS:能量彌散X射線譜（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope掃描電子顯微鏡
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope場發射掃描電子顯微鏡
STM:scanning tunneling microscope掃描隧道顯微鏡
AFM：Atomic force microscopy原子力顯微鏡
XRD：X-ray diffractionX射線衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射線光電子能譜
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立葉紅外光譜儀
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可見吸收光譜

5、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用

SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。

6、XPS和EDX有什麼區別

EDS是能譜分析，EDX是熒光分析，EDXRF是能量色散型熒光X射線，目前有害物質分析儀和一些鍍層厚度分析儀利用此原理。
EDS，（ 電子差速鎖）英文全稱為ElectronicDifferentialSystem， 它是ABS的一種擴展功能，用於鑒別汽車的輪子是不是失去著地摩擦力，從而對汽車的打滑車輪進行控制。另有an HP company 是全球信息服務業領導者之一，以協助全球客戶提高企業的運營績效。另有EDS (能譜，Energy Dispersive Spectrometer)，EDS電氣設計軟體包。
EDX:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy能量色散X射線光譜儀，也可簡寫為EDS
EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的， 根據波長測定試樣所含的元素，根據強度測定元素的相對含量。
常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當特徵X射線光子進入硅滲鋰探測器後便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以後變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，並計數能譜中每個能帶的脈沖數。

7、怎樣分析XPS能譜

您好
您可以找一本 X射線光電子潽學 的書來看看，如果您打算了解這門學問的話，但是如果您僅僅是想分析譜圖，那麼就簡單了，首先您做出的譜圖如果是含有多種元素的圖，那就要先完成分峰這個任務，找一個分峰的軟體，我用的是XPS PEAKFIT，然後查到各個峰的位置，也就是找到橫坐標：結合能（Binding energy），再和標準的峰位表進行比對，就可以確定這個峰到底是對應什麼元素了。大體就是這個思路，因為我做的是稀磁半導體的摻雜，所以我使用XPS來確定我摻雜物的價態，所以我簡要說了我的工作所涉及的步驟，XPS還有其他很多用處。