1、如何使用image pro plus測SEM表面粗糙度
這個標尺當然不能隨便 畫個小橫杠就行了.本篇就是介紹如何使用 imagepro plus 程序給圖片上標上標尺
2、如何用image pro plus統計sem圖微球粒徑
R
3、掃描電鏡圖片如何分析
第一、掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子像和背散射電子像，主要用於表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察。
一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情況需要對比分析。
背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況，越亮的區域，原子序數越高。
第二、看錶面形貌，電子成像，亮的區域高，暗的區域低。非常薄的薄膜，背散射電子會造成假像。導電性差時，電子積聚也會造成假像。
4、如何用image pro plus分析圖像熒光強度
打開Launch Center Pro，創建一個叫Omnifocus的操作組，然後再往這個操作組添加新的操作。
如果你要在 Omnifocus 創建新收件箱項，添加URL到Launch Center Pro即可通過Launch Center Pro快捷創建收件箱項。
在URL一欄輸 入：omnifocus:///add?name=[prompt]添加新的URL快捷進入創建一個新收件箱項
點go就可以直接進入Omnifocus了
如果你想把復制到內容粘貼到新收件箱項，我們還可以創建一個新的快捷操作到Launch Center Pro，命名為粘貼，然後再URL一欄輸入：omnifocus:///add?name=[prompt]¬e=[clipboard]。
5、怎麼利用image-proplus 6.0得到掃描電鏡直徑分布圖
這個問題非常的寬泛，ipp可以分析的數據可是相當多的，怎麼進行統計分析很大程度上是你的分組決定的。至於統計，對ipp來說是統計什麼指標。
6、如何用Image-Pro Plus，Image J分析WESTERN 圖
條帶分析最好使用其它更為專業的軟體（比如nebular提供的Labworks，Quantity
one等），但是對於Western這種簡單的條帶，IPP完全可以分析，只是復雜一點：
1 選用指標為IOD，故首先將系統的灰度設定改過來，（改為0
白，255黑）
2 確定背景的灰度（在背景區域選擇一個AOI）
3 Histogram顯示，平均灰度為66；所以，要通過Operation的功能，將待分析的所有膜照片的背景均加或減到某一固定值（由自己確定，方法見以前的介紹）
4 通過Operation處理後，在Segmentation下，確定陽性區域的范圍（所有的圖像都應該統一；我選擇的是0-98）
5 選擇Transparent on white,Create preview image
6 注意新生成的圖片不是灰度圖，還要經過轉換
7 自由AOI，勾畫出大概的輪廓即可 8 Histogram，Sum值即為需要的陽性區域IOD
9 改變區域大小，Sum值變化不大（原因為白色背景的IOD均為0）
10
其他條帶也通過類似的方法分析；最後求出陽性區域IOD與內參IOD的比值，用於統計學分析。
整個分析的關鍵在於背景灰度的統一與分割時的一點小技巧；如果沒有經過Segmentation而直接用自由AOI主觀地確定條帶的邊界，是不可取的。
7、怎麼利用image-proplus 6.0分析sem纖維膜直徑
Image-ProPlus是功能強大的2D和3D圖像處理、增強和分析，具有異常豐富的測量和定製功能。作為鼎鼎大名的Image-Pro系列中功能最強大的成員之一，它包含了異常豐富的增強和測量工具，並允許用戶自行編寫針對特定應用的宏和插件。