1、掃描電鏡樣品的處理
關鍵看你的實驗目的是什麼。
如果A樣品和B樣品是兩個單獨的實驗，不用做橫向對比，那麼用不同的制樣方法沒有什麼問題。
如果兩個樣品在合成制備過程中用了不用的方法或者條件，要用SEM做橫向比對，制備的結果。那麼，最好用同樣的制樣方法。否則，即使你在SEM下看到了明顯不同的結果，你也難以判斷是由於SEM制樣方法不同造成的，還是，由於合成制備方法不同造成的影響。
如果超聲是你樣品合成制備過程的一部分，因而，有必要比較超聲前和超聲後樣品的區別。那麼，對於兩個平行樣品，一個樣品經過超聲處理，一個樣品直接乾燥，是很合理的實驗安排。可以探討超聲過程（工藝）對最終結果的影響。
總之，對於SEM儀器或者這個表徵手段來說，超聲或者不超聲，做出來的樣品，是可以放到一起觀察的。問題的關鍵在於你想知道什麼。
2、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉
3、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。
4、請問在SEM分析的樣品需要拋光得很光滑么？
SEM拋光我想應該是要清潔一下表面，避免表面含有一些臟東西之類的，如果是要看組織，不僅最後不是拋光，而且做SEM之前還需要腐蝕，SEM的二次電子成像原理就是要求表面凹凸不平，如果拋光了的話就沒辦法看二次電子像了，只能用背散射看了
5、怎麼區分電鏡的樣品台？什麼情況下使用什麼樣的樣品台？
形狀不同的話應該是根據你的樣品要測的信息，比如有直接看形貌的也有看側面信息（如截面）等，材質不同不知道該如何區分。
6、鎢燈絲掃描電鏡SEM可以測試低碳鋼樣品么？
鎢燈絲測試低碳鋼樣品可以找專業檢測機構