像散sem

1、TEM和SEM有什麼區別？

透射電鏡（TEM）的放大倍數要比掃描電鏡（SEM）的高,當然兩則的成像原理也是不同的，如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況，你就必須要用TEM來觀察了，SEM通常看材料的缺口斷面，當然還有許多其他應用。SEM是電子束激發出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於SEM,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.其操作較復雜,樣品製作也較為煩瑣

2、象散的像散帶來的問題

偏離中軸進入鏡片的光線可分為水平面光線(橙色)和垂直面光線(綠色)，而它們各自的焦點卻在不同位置。
由一張測試圖中100%局部裁切，左為圖片中心，成像清晰；而右邊為圖片的角落，出現明顯的像散。

3、一個光學系統在視場中心是否會有彗差像散

在理想情況下，中心視場是不會出現彗差或象散的，因為彗差和象散屬於軸外點像差，中心視場一般就是沿光軸方向的視場，所以不會有彗差或象散；
但是在實際光學加工和裝調過程中，光學鏡片在加工過程中不能保證光軸一致，本身會存在偏心和傾斜；在裝調過程中，也會引入元件之間的偏心和傾斜，所以在中心視場可能會有彗差和象散- -醬紫回答，你可滿意？

4、如何獲得清晰的掃描電鏡（SEM）圖像

1、制樣：成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導電，可能需要鍍金
2、環境：電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下
3、設備：電鏡電子槍仍在合理的使用時間內
4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰

5、SEM與TEM的區別

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.

區別：

SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。

SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。

TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。

6、是不是像散太嚴重了

看什麼情況了，如果是老年人因為器質性病變引起的竇性心動過緩就需要擔心了，得安置起搏器。。如果是年輕人生理性的竇性心動過緩，就不用擔心他，沒事。。多做些戶外運動加強身體鍛煉就行了。。

7、我怎麼覺得我長得這么像散皇

先說一句 越小的狗越難養活哦 我家的是玩具貴賓 也就是泰迪 現在一歲了 也長得跟貓差不多大 比我原來想的大多了 但比一般的標准貴賓小的多 茶杯泰迪很少有的 而且那麼小的狗小時候很難活 長大了估計比我家玩具也就小一點吧 不會一直那麼小不長大的 比茶杯再大一就是玩具了 然後是迷你 然後是標准

8、你好，能幫忙解釋一下像散，球差，慧差的概念網上說的還是不太明白。

如上，像散，發光點p，不在光軸之上，經過透鏡，光束focus，如圖c處就是聚不到一個點上，這樣它原本是p點傳播過後不是一個點了，成像不清晰，即為像散。

如上，慧差。主軸外的物點，發出光束，經光學系統，理想平面處不能結成清晰點，而是結成拖著明亮尾巴的彗星形光斑，好比上圖abcde平面處的點圖，很像彗星呵呵。即慧差。

如上，球差，同樣是發光點，經過透鏡（最簡單的光學系統）成像後依舊不是一個點，不過與慧差和像散不同，在透鏡一個漫射圓斑，即球差。

三者的區分，最主要是看像平面上面的點圖，並且三者的成因也與物體是否在光軸有關，這個具體外文教材《Introction to lens design ......》里有講