如何用SEM看小粒徑顆粒的截面

1、怎麼計算sem中粉末的粒徑分布

不需要吧，不過這種方法貌似誤差比較大，最直觀的就是做透射電鏡，然後用image j統計比較准確~~ 可是我覺得報告里的粒徑不大正確，而且測試的老師也說讓我自己計算，一起計算的不準確！fangxingxue(站內聯系TA)我們做了以後發現數據波動很厲害，所以說 用zetasizer測定顆粒平均粒徑不大准，建議用透射吧

2、為什麼測定顆粒物的粒徑大小很重要

納米顆粒粒徑大小可以用TEM、SEM等技術測量 粒徑分布可以採用DLS、原子力顯微鏡、梯度離心、電泳等方法 比表面積可以BET的方法。 其他的就不清楚了，可能還有新的方法

3、如何表示顆粒的粒徑？

由於粒徑是描述顆粒大小的所有概念中最簡單、直觀、容易量化的一個量，所以在實際的粒度分布測量過程中，人們還都是用粒徑來描述顆粒大小的。一方面不規則形狀並不存在真實的直徑，另一方面又用粒徑這個概念來表示它的大小，這似乎是矛盾的。其實，在粒度分布測量過程中所說的粒徑並非顆粒的真實直徑，而是虛擬的「等效直徑」。等效直徑是當被測顆粒的某一物理特性與某一直徑的同質球體最相近時，就把該球體的直徑作為被測顆粒的等效直徑。就是說大多數情況下粒度儀所測的粒徑是一種等效意義上的粒徑。不同原理的粒度儀器依據不同的顆粒特性做等效對比。如沉降式粒度儀是依據顆粒的沉降速度作等效對比，所測的粒徑為等效沉速徑，即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質球形顆粒的直徑來代表實際顆粒的大小。激光粒度儀是利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，所測出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的大小。當被測顆粒為球形時，其等效粒徑就是它的實際直徑。平均徑、D50、最頻粒徑，定義這三個術語是很重要的，它們在統計及粒度分析中常常被用到。平均徑：表示顆粒平均大小的數據。有很多不同的平均值的演算法，如D[4，3]等。根據不同的儀器所測量的粒度分布，平均粒徑分、體積平均徑、面積平均徑、長度平均徑、數量平均徑等。

4、粒度分布圖數值怎樣分析

粒徑分布表是不同粒徑在總粒徑中的含量。分異是指該粒徑所佔的百分比，堆積是指以前所有粒徑含量的總和。

通過減去兩個累積值（或加上該范圍內的所有差分值）可以得到該范圍內粒度的百分比。從表中可以看出，440微米以下的顆粒含量佔100%。

粒度分布圖是表的可視化。水平軸為粒徑（類似於直徑尺寸等），縱軸為含量比例，最大為100%。體重藍線為各粒徑的比例，紅色為各粒徑比例的整數值。

藍線的峰值表示粒徑為23微米至400微米的顆粒含量，而最大含量的顆粒則集中在100微米；而紅線則表示一定粒徑之前所有顆粒含量的總和。可見，350微米以下的顆粒佔100%。

(4)如何用SEM看小粒徑顆粒的截面擴展資料：

粒度特性有兩個關鍵指標，介紹如下：

①D50：試樣的累積粒徑分布百分率達到50%時對應的粒徑。其物理意義是粒徑大於50%的顆粒佔50%，粒徑小於50%的顆粒佔50%。D50也稱為中值或中值粒徑。D50通常用來表示粉末的平均粒徑。

② D97：試樣累積粒徑分布達到97%時對應的粒徑。其物理意義是粒徑小於對應的顆粒佔97%。D97通常用來表示粉末粗末的粒徑指數。其他參數，如D16和D90，其定義和物理意義與D97相似。

5、如何對納米顆粒進行高分辨透射電鏡分析

一樓回答的是針對納米棒吧？1、納米顆粒是指在100納米以下的，都叫納米顆粒。2、測試粒徑分布的現在高級貨都用馬而文激光粒度測試儀（也有低端國產的粒度儀），可以提供粒度報告，尺寸分布報告，體積分布報告，強度分布報告等多種數據。特點是可以測試1納米~1000納米范圍內的樣品數據可靠性高，要求納米顆粒的粒徑分布較為集中，你不要有很多1納米級的，又有很多1000納米的，這樣出的數據可靠性相對低。會提供一個數據可靠性參數PDI。便宜，因為我們實驗室就有可以幫你測。別的地方也有，行價大約是在50~100元之間吧。粒徑分為晶體粒徑，和顆粒粒徑，如果樓主確定是要顆粒粒徑的話，還可以通過SEM，或FE-SEM來看。然後通過相關軟體數據統計。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，這樣看你的樣品導電不導了，涉及到噴金、噴碳的問題。一樓說的紫外，我覺得的可取性不是很高，因為只是定性分析，不能給出定量數據，而且要受到濃度等多種因素影響，UIV主要用於濃度和紫外特徵峰、漫反射等方面的表徵。而且一般TEM隨隨便便就可以達到納米級，沒有那麼誇張。一般的也就200元，高分辨的會比較貴也就500夠了。但有個問題是TEM看到不一定是顆粒粒徑，有可能是晶體粒徑，你要具備分析的能力，也可以用這個表徵。

6、如何正確評估納米顆粒材料的粒徑

一種是統計學方法，通過統計TEM或SEM視野內顆粒的粒徑得到一個統計值；另外一種方法是計演算法，利用XRD表徵數據可以計算出來粒徑的平均大小。

7、如何制備sem石墨烯薄膜的截面

bachier(站內聯系TA)不是個笑話,SEM表徵石墨烯的也不少,我也不做石墨烯,我們這一堆人做,他們都用SEM.石墨烯是導電的材料,不用噴金fansire(站內聯系TA)噴了也沒關系吧,我記得實驗室的石墨烯SEM也是噴了金的xiejf(站內聯系TA)導電性好,不要噴金.噴了反而會影響表徵的准確度wulishi8(站內聯系TA)石墨烯是導電的,不需要噴金. 不噴也行,看得還行,GO和RGO的導電性夠了神魔流轉(站內聯系TA)GO 和石墨烯做SEM都是不必要的,AFM和TEM有用,但SEM是真心沒用,除了做負載或特定形貌時可能需要觀察下.jiji188(站內聯系TA)不噴也行,我們實驗室一般都是滴在ITO上直接照SEM的,效果還行.夢日邊(站內聯系TA)我做的表徵時噴金了,看了還挺清楚,沒試過不噴金zmcai(站內聯系TA)你的SEM是不是有問題,我們一般是放在矽片上,矽片是半導體,有導電能里,但是你用二氧化硅行么?我們一般都是直接塗在做SEM的矽片上拍電極,不用噴金也可以.如果你噴金了,導電性會好些,但是如果沒控制好,可能會看到大顆粒的金,也是會影響表徵的.zhouxin(站內聯系TA)不需要噴金的,直接滴到矽片上的,這個主要還得看你的石墨烯粒徑大小,太小的話看不出來什麼有用的信息fluoro(站內聯系TA)我們表徵石墨都不噴,效果還挺清晰的蘇惜不若(站內聯系TA)不用噴金的,導電性很好的.yjiaahe(站內聯系TA)SEM可以表徵,也不需要蒸金,若觀察到褶皺的話,說明層數較少,但是無法確定是石墨烯還是石墨片,需要HRTEM和拉曼光譜（波數50-3000）:Dyy秋水(站內聯系TA)哈哈,不用噴金,只要你的基底能夠導電就可以了,如果在二氧化硅基底上,SEM的圖是黑色的,不過放大以後還是能看到一些細節的威威號(站內聯系TA)不用噴金,把石墨烯用水分散,足夠稀（幾乎看不到顏色）,超聲.

8、你好···請問納米級材料粒徑檢測時採用SEM的具體步驟能詳細介紹一下么··謝謝··做實驗有點急用··

其實，SEM只能知道局部的大致粒徑，並不能得到粒徑分布的完整信息。做粒徑分布測試應該通過激光粒度儀來完成，可以輸出完整的粒徑分布曲線報告。
另外，要對經過分散的顆粒（液相）進行SEM拍照，需要再做塗膜後乾燥才能操作，實際上在乾燥的過程中，再小的納米顆粒都會重新團聚到一起了，基本上拍出來的照片看到的應該都是微米級的了。要得到納米材料的真實情況照片，必須保持分散液狀態來做電鏡掃描。