1、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎
理論上單純用SEM不能測出晶型，測晶型一般用XRD等儀器。掃描電鏡只能觀察形貌，解析度可達亞微米級別。
不過對於特定的樣品，如果具有明確的晶型，藉助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一種物質只有區別明顯的兩種晶型，藉助確定的形貌可以推斷是那種晶型）。另外，SEM通過加裝EBSD附件，通過觀察也有可能觀察晶型
2、測掃描電鏡需要製成懸濁液嗎，我想觀察樣品的形貌，測SEM還是TEM好？
一般都是需要分散的，否則容易團聚在一起，看不清楚形貌。當然如果你的樣品與乙醇有反應就算了。
如果僅僅是觀測形貌，SEM就可以，只要粒徑不是小到需要高分辨的程度。如果需要對晶體結構有所了解，最好還是做TEM。粉末樣品還是比較容易制備的。
3、掃描電子顯微鏡樣品的高低不平對能譜數據採集有影響嗎？如何解決
有，
盡量平整，
校準程序
4、聚合物想測SEM，如何製作樣品？
既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態下的膜，還是製品的膜形貌了，製品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導電膠。
5、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉