sem和xrd的先後順序

1、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用

SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。

2、誰知道SEM和XRD怎麼去分析啊

SEM主要是用來檢測形貌和粒徑的，XRD是用來做定性和半定量的。

3、XRD和SEM聯合分析作用是什麼？

如果聯行分析他們不起作用的話，可以把聯合放血拆解成分析的一些階段。

4、SEM和XRD的聯合分析作用是什麼?

這個SEM和xrd，他們的聯系和分析也是沒什麼大作用的

5、怎麼區分次序和順序

1、排列規律不同

次序：指時空維度上排列的先後順序。排序元素隨意排列出先後即可，不強調遵循規律排列。

順序：依照一定規律排列的先後次序。偏重強調排序元素遵循一定規律排列。

2、歸屬關系不同

次序歸屬於順序。順序有廣義狹義之分。廣義，就是指次序；狹義，就是指有規律的次序。

如：按年齡從大到小順序排列、按身高從高到低順序排列、按得分從高到低順序排列。

3、出處不同

次序：唐·劉知幾 《史通·二體》：「或以身隱位卑，不預朝政，或以文煩事博，難為次序，皆略而不書，斯則可也。」

譯文：「有人因隱地位低下，不參與朝政，有人把文章麻煩事博，難以編排，都略而不書，這樣就可以了。」

順序：老舍 《龍須溝》第三幕：「 趙大爺 ，辛苦啦！這兒都順序！」

6、xrd sem表徵差異

具體概念:http://ke.baidu.com/view/116780.html?wtp=tt
檢測方法:用XRD檢測儀檢測
表徵差異：跟標准圖譜對比，根據波峰的差異可以得到相關的信息。

7、XRD 和SEM的結果問什麼不一致

XRD一般用來鑒定物相，對於一些常見的復合礦物或者黏土礦物可以做一些定量分析。而SEM只是看錶面形貌，這二者沒什麼關聯的，有需要的話可以私信我，具體再看。

8、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？

XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。