1、粘土礦物掃描電鏡下微觀分析
為了進一步查明吐哈盆地砂岩鈾礦各地球化學分帶中粘土礦物的蝕變與轉化特徵、形態特徵和產出狀態，對樣品進行了掃描電子顯微鏡下微觀特徵的分析。
圖7-9 伊利石X-射線衍射能譜圖
表7-6 伊利石元素組成
1.蒙皂石
蒙皂石中分為二八面體和三八面體兩個亞族。蒙脫石是二八面體亞族的一個常見成員，常見於沉積岩；皂石是三八面體亞族的常見成員，常見於鐵鎂質岩漿岩的蝕變產物蛇紋岩中。
根據X衍射譜圖特徵和掃描電鏡下觀察，本區粘土礦物中蒙皂石基本為二八面體的蒙脫石。
蒙脫石呈絲狀、片狀，分布於顆粒表面（圖版11圖4），在掃描電鏡下，蒙脫石的集合體常呈花朵狀、蜂巢狀等形態或充填於顆粒之間。蒙脫石是砂岩中的主要粘土礦物。
2.高嶺石
高嶺石是砂岩中常見的粘土礦物。它一般以很細小的集合體出現，在掃描電鏡下容易分辨它的形態。高嶺石集合體形態多樣，在本次研究中觀察到主要有蠕蟲狀（圖版12圖1），這是由每個片狀單晶面（001）平行沿c軸方向疊加形成的，其「蠕蟲」長度一般2～4mm，這種高嶺石一般在煤系地層岩石中常見。風琴狀集合體（圖版12圖2、3），多以孔隙充填的形式存在於粒間或顆粒表面（圖版12圖4、5、6），高嶺石容易產生微粒遷移，堵塞孔隙通道。
3.伊利石
伊利石（Illite）集合體在電鏡下常呈不規則片狀，常平行於顆粒表面呈鱗片狀排列或貼附於顆粒表面（圖版11圖5和6）。這種伊利石常出現於成岩早期。
2、如何對岩石表面進行掃描電鏡測試
可以直接切割，取上層，進行掃描電鏡測試。
3、岩石鑄體薄片、掃描電鏡SEM圖像分析，在哪門課程裡面？誰能推薦本好的參考書？
我只是定製了SEM關鍵詞進來回答問題，http://wenku.網路.com/view/69bfc416866fb84ae45c8dce.html你需要的掃描電鏡SEM網路里有電子書下載
4、掃描電鏡和透射電鏡的EDS對分析樣品的成分有什麼不同？
SEM TEM 都是主要用來分析形貌。他兩相比較TEM的解析度要高於SEM。TEM給出的是一個平面圖，可以告訴你樣品的形貌特這，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌結構的，給出的是立體圖，對觀察棒狀，球狀，等等材料材料有很好的視覺效果。EDS是分析成分的，一般是配套於TEM儀器上。它分析的是樣品表面面某個小的部分的元素組成，不能代表樣品整體組成。
5、各類岩石掃描電鏡鑒定
岩礦石鑒定是一項非常復雜的工作，一般使用掃描電鏡和電子探針結合來進行見鑒定。
從科學的層面，中科院地質所 張汝藩著 《掃描電鏡與微觀地質研究》中有大量的岩礦微觀圖譜，這是最基本礦物的圖譜。
工程技術層面來分析鑒定, 由於一般岩石礦物成分復雜，多種伴生礦，不同種類礦石比例含量不同，如果需要對礦物加工，就需要定量研究，必須使用電子探針。電子探針相對掃描電鏡來說，可以說是帶有多道波譜的高精度微區元素定量分析系統，這在科學研究中相當重要。目前也出現對礦石在加工過程中現場快速自動分析的SEM+EDS。以上二者應用於工程領域的專業化自動化分析手段，相對實驗室SEM，顯得昂貴。
6、掃描電鏡圖片如何分析
第一、掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子像和背散射電子像，主要用於表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察。
一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情況需要對比分析。
背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況，越亮的區域，原子序數越高。
第二、看錶面形貌，電子成像，亮的區域高，暗的區域低。非常薄的薄膜，背散射電子會造成假像。導電性差時，電子積聚也會造成假像。