1、EDX 點掃，面掃和mapping這三者之間有什麼差別
EDX 點掃,面掃和mapping這三者之間有什麼差別？
就定量來說，SEM點分析比線分析和面分析更准確，掃描的方式不同，線分析和面分析只能定性的分析觀察視場的元素分布情況（線分析是沿著某個界面的元素分布起伏，而面分析是看整個視場的元素分布情況），點分析可以基本定量分析元素。
2、掃描電鏡各元素麵掃圖怎麼用軟體疊加儀器
每個圖譜中都有亮點和黑暗的地方，他們應該是不同的元素，一個圖譜就是一種元素，要把這些圖譜和SEM照片結合起來分析
3、qunta 掃描電鏡 怎樣做面掃
找廠家啊，這種事情還用問嗎，說明書上一般都會有的，你不會找廠家客服
4、sem掃描的時候會出現元素分析嗎
如果是即將開始學習儀器操作的管理人員,建議先系統學習理論知識,再找專業的儀器工程師培訓.如果是學生,要使用電鏡,從安全形度考慮,1、2、3幾項通常是值機人員完成的.我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源,只要能正常開機,一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空,否則氣體電離度大、損傷電子槍,但是電鏡軟體一般都已經設置好,不到工作真空,根本加不上去高壓,所以只要能夠加高壓,也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓,等30秒以上,待燈絲冷卻後再放氣為宜,主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離,包括平面方向和上下方向,平面方向移動到極限時會有報警提示,看到提示往回移動即可.高度方向也如此,但是要注意向上移動時,要緩慢,要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴,損壞設備；4,電子束與試樣作用,可激發出多種信號,如二次電子信號（用於形貌觀察）,背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究）,這些信號已經被有效的加以利用,這是一門獨立的學科,若需要詳細了解,你需要系統地學習一下.
5、能譜掃描成分的深度是多少？
Q :用SEM中的EDS做元素麵掃描，其反映的是多少深度的信息？RE:分析深度取決於樣品本性和選用的參數，不同的加速電壓，穿透深度不一樣，電壓越高，X射線激發深度越深 ,通常5KV一個單位入射深度2-3個mirc. 電壓強度越高入射深度越強. 輕元素比較深，重元素相對較淺。具體書上有公式計算。和加速電壓，元素的吸收系數等有關系。一般在幾微米左右，重元素可能在幾百納米。
6、就採用能譜檢測結果而言，請問掃描電鏡和電子探針有什麼差別？電子探針元素麵掃是能譜還是波譜分析的？
掃描電鏡束流小，電子探針能譜分析結果比掃描電鏡能譜精確一個數量級，電子探針元素麵掃描可以用能譜，也可以用波譜，一般對輕元素（C以下），波譜較准確，相對來說波譜掃描時間較長，一般定性及半定量基本用能譜。
7、ss-550掃描電鏡面掃，可否得到每點的元素含量值
掃描電鏡面掃與電鏡型號無關，與所配的能譜有關。元素含量測試是能譜儀測出的，不過可以確定的是能譜儀的面掃結果得不到每點的元素含量值。每個點需要單獨測量。
8、SEM的面掃描和先掃描有什麼區別，打能譜是什麼作用
面掃是整個試件的表面，包含線掃，能譜可以看出元素分布含量