1、怎樣統計納米顆粒的大小（直徑）
樓上說的是錯的。SHERR公式計算得到的是晶體尺寸和顆粒尺寸完全是兩回事。
用馬爾文激光粒度回儀可以測的答納米顆粒的顆粒尺寸，以及分布范圍。樓主說的恐怕是要用SEM觀察到顆粒後，統計平均顆粒粒徑吧。那個軟體叫image-pro plus 。建議使用5.1版。
有問題再留言給我。相信可以幫到你
2、粒徑分析儀測得的納米顆粒粒徑的准確率多大
納米顆粒粒徑大小可以用TEM、SEM等技術測量
粒徑分布可以採用DLS、原子力顯微鏡、梯度離心、電泳等方法
比表面積可以BET的方法。
其他的就不清楚了，可能還有新的方法
3、納米顆粒粒徑大小，粒徑分布及表面測試的方法有哪些？各種方法的特點是是什麼？
一樓回答的是針對納米棒吧？
1、納米顆粒是指在100納米以下的，都叫納米顆粒。
2、測試粒徑分布的現在高級貨都用馬而文激光粒度測試儀（也有低端國產的粒度儀），可以提供粒度報告，尺寸分布報告，體積分布報告，強度分布報告等多種數據。
特點是可以測試1納米~1000納米范圍內的樣品數據可靠性高，要求納米顆粒的粒徑分布較為集中，你不要有很多1納米級的，又有很多1000納米的，這樣出的數據可靠性相對低。會提供一個數據可靠性參數PDI。便宜，因為我們實驗室就有可以幫你測。別的地方也有，行價大約是在50~100元之間吧。
粒徑分為晶體粒徑，和顆粒粒徑，如果樓主確定是要顆粒粒徑的話，還可以通過SEM，或FE-SEM來看。然後通過相關軟體數據統計。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，這樣看你的樣品導電不導了，涉及到噴金、噴碳的問題。一樓說的紫外，我覺得的可取性不是很高，因為只是定性分析，不能給出定量數據，而且要受到濃度等多種因素影響，UIV主要用於濃度和紫外特徵峰、漫反射等方面的表徵。而且一般TEM隨隨便便就可以達到納米級，沒有那麼誇張。一般的也就200元，高分辨的會比較貴也就500夠了。但有個問題是TEM看到不一定是顆粒粒徑，有可能是晶體粒徑，你要具備分析的能力，也可以用這個表徵。
4、檢測納米顆粒粒徑分布的手段有哪些
一樓回答的是針對納米棒吧？
1、納米顆粒是指在100納米以下的，都叫納米顆粒。
2、測試粒徑分布的現在高級貨都用馬而文激光粒度測試儀（也有低端國產的粒度儀），可以提供粒度報告，尺寸分布報告，體積分布報告，強度分布報告等多種數據。
特點是可以測試1納米~1000納米范圍內的樣品數據可靠性高，要求納米顆粒的粒徑分布較為集中，你不要有很多1納米級的，又有很多1000納米的，這樣出的數據可靠性相對低。會提供一個數據可靠性參數PDI。便宜，因為我們實驗室就有可以幫你測。別的地方也有，行價大約是在50~100元之間吧。
粒徑分為晶體粒徑，和顆粒粒徑，如果樓主確定是要顆粒粒徑的話，還可以通過SEM，或FE-SEM來看。然後通過相關數據統計。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，這樣看你的樣品導電不導了，涉及到噴金、噴碳的問題。一樓說的紫外，我覺得的可取性不是很高，因為只是定性分析，不能給出定量數據，而且要受到濃度等多種因素影響，UIV主要用於濃度和紫外特徵峰、漫反射等方面的表徵。而且一般TEM隨隨便便就可以達到納米級，沒有那麼誇張。一般的也就200元，高分辨的會比較貴也就500夠了。但有個問題是TEM看到不一定是顆粒粒徑，有可能是晶體粒徑，你要具備分析的能力，也可以用這個表徵。
5、掃描電鏡可以測量500微米的顆粒粒徑嗎
完全沒有問題，
但一般用個幾千塊錢的體式顯微鏡（帶有刻度），可以滿足0.5mm的尺寸測量了！
但如果進行基本數據測量統計，要接配pc控制測量軟體，那麼就有意思了，幾萬塊~幾十萬塊的光學顯微鏡或者叫視頻顯微鏡可以隨便選擇
6、請問測試納米顆粒的粒徑之前，需要做那些准備工作？
納米顆粒粒徑大小可以用tem、sem等技術測量
粒徑分布可以採用dls、原子力顯微鏡、梯度離心、電泳等方法
比表面積可以bet的方法。
其他的就不清楚了，可能還有新的方法
7、你好···請問納米級材料粒徑檢測時採用SEM的具體步驟能詳細介紹一下么··謝謝··做實驗有點急用··
其實，SEM只能知道局部的大致粒徑，並不能得到粒徑分布的完整信息。做粒徑分布測試應該通過激光粒度儀來完成，可以輸出完整的粒徑分布曲線報告。
另外，要對經過分散的顆粒（液相）進行SEM拍照，需要再做塗膜後乾燥才能操作，實際上在乾燥的過程中，再小的納米顆粒都會重新團聚到一起了，基本上拍出來的照片看到的應該都是微米級的了。要得到納米材料的真實情況照片，必須保持分散液狀態來做電鏡掃描。
8、50納米左右的粒子用掃描電鏡觀察時,應該用多大的放大倍數
200k~400k
9、掃描電鏡譜圖與X-射線衍射得出的粒徑大小有什麼不同
掃描電鏡通過觀測晶粒形貌，放大後使用標尺測量粒徑，或者專業的軟體，對內顆粒形態進行綜合表徵，如長軸短容軸周長面積等，可以生成粒度直方圖，但由於掃描電鏡一般允許10%左右的放大倍數誤差，因此相應的粒徑尺寸也有較大的誤差。
X射線衍射是通過輸入衍射峰半高寬來對晶粒大小進行估算，相對准確度高。