SEM光束聚焦在單顆粒上

1、亞克力板做好漆進行激光刻字，在背面打光字體上有會黑色顆粒狀是什麼原因？

有可能是漆問題復，制
激光雕刻是用300多束光聚焦一點，讓這一點的溫度達到2000多度，在物體上留下一個很小的燒灼點，當物體是透明的話，這個聚焦點可以是在物體內部也可以是在物體的背面，若是不透光的物體，就只能是在表面聚焦了
也就是當你把光束聚焦到亞歷克裡面，就不受油漆的影響了，當然你的油漆必須是透明的，而且漆層均勻

2、【求助】激光粒徑儀所測粒徑與SEM的粒徑相差甚遠是什麼原因

nanopowders(站內聯系TA)激光粒度是一個統計數據，可能會是單顆粒和團聚體的表現，而電鏡粒度一般都是統計單個顆粒，除非你的顆粒在溶液中的分散性能很好，形成類似於單分散的漿液，這樣二者才會很接近，不然測試的激光粒度都要大於電鏡粒度，工業上控制在2倍范圍都是可以的pigfly(站內聯系TA)激光粒徑儀測得的是水合半徑,如果是利用靜電排斥作用穩定的體系,水合半與pH有很大關系,sugucong(站內聯系TA)激光粒徑儀測量的是水溶液，而SEM是顆粒的乾粉，一般情況下激光粒徑儀所得到的結果比SEM的要大至少幾個納米，還有，激光粒徑儀受到各別非常大的顆粒影響很大，而且對溫度，樣品的濃度、單分散性都有很大的影響，但你可以通過多次測量得出一個准確的結果。你可以用一個標准物質與它們進行校正。動態光散射的話是分開來進行測量，然後通過比例進行校正。TEM可以通過樣品之間不同比例的混合，然後通過統計，最後進行校正。這樣你就可以得到你們顆粒的准確粒徑。

3、SEM和EPMA實驗可以直接得到哪些信息?

SEM是
掃描電子顯微鏡
，主要用於電子顯微成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特徵分析，
最常用的是聚焦
電子束
和樣品相互作用區發射出的元素特徵
X-射線
，可用EDS或者WDS進行探測分析，獲得微區（作用區）元素成分信息，而EDS或者WDS這類電子顯微分析附件卻來源於EPMA。
SEM就是一個電子顯微分析平台，分析附件可根據用戶需要來選配，有需要這個的，有需要那個的，因此
掃描電鏡
結構種類具有多樣性，從tiny、small、little
style，to
middle、large、huge
style.

就EDS或WDS分析技術來講，在SEM上使用，基本上使用無
標樣
分析，獲得很粗糙的
半定量
結果。
而EPMA在SEM商品化10年前，就已經開始實用了，其主要目的，就是要精確獲得微米尺度晶粒或顆粒的成分信息.
主要分析手段是WDS，一般配置4個WDS，基於此，EPMA結構比較單一，各品牌型號結構差距不大。EMPA追求電子顯微分析結果精準，因此
電子光學
設計不追求高分辨，電子顯微分析對匯聚束的要求相匹配即可。
早期EPMA成像手段主要採用同軸
光學顯微鏡
，然後移動樣品台或移動匯聚電子束，找到感興趣區，當前依然保留同軸光鏡，用來校準WD。EMPA對電子光學系統工作條件的穩定性要求超過SEM很多很多，控制系統增加了一些
負反饋
機制，確保分析條件和標樣分析保持很小的誤差。

4、怎樣預處理用SEM看粒子大小

關於怎樣預處理用SEM看粒子大小問題，上海獻峰網路指出：
1、葯物與輔料的性質要相近進行粉末直接壓片時，葯物與輔料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性質要相近，以利於混合均勻，尤其是規格較小、需測定含量均勻度的葯物，必須慎重選擇各種輔料。

2、不溶性潤滑劑須最後加入用於粉末直接壓片的不溶性潤滑劑一定要最後加入，即先將原料與其它輔料混合均勻後，再加入不溶性潤滑劑，並且要控制好混合時間，否則會嚴重影響崩解或溶出。另外，以預膠化澱粉、微晶纖維素等為輔料時，硬脂酸鎂的用量如果較多且混合時間較長，片劑有軟化現象，所以一般用量應在0.75％以下，而且要對混合時間、轉速及強度進行驗證。

3、混合後要進行含量測定與常規濕法制粒的生產工藝一樣，進行粉末直接壓片的各原輔料混合後要進行含量測定，以確保中間產品和成品的質量符合規定標准。

4、小試後須進行充分的試驗放大一般情況下，用粉末直接壓片工藝壓制的不合格片劑不宜返工。因為返工須將片劑重新粉碎，粉碎後物料的可壓性會顯著降低，以致不適於進行直接壓片。所以，從小試至大生產，必須進行中試，並經過充分的驗證，且中試應採用與以後大生產相同類型的設備，以使確定的參數對大生產有指導作用。

5、微晶纖維素的使用片劑硬度和脆碎度不合格時，可以加入微晶纖維素，其用量可高達65％；還可以採用先壓成大片，然後破碎成顆粒，再行壓片的方法，可得到滿意的結果。

6、及時處理壓片中的異常情況在壓片過程中，應按標准操作程序及時取樣，觀察片劑的外觀及測定片重差異、硬度、脆碎度、崩解時間、片厚等質量指標，並觀察設備運行情況，出現異常情況應及時報告並採取應急措施，詳細記錄異常現象和處理結果，進行詳細的分析，以確保產品質量。

5、sem是學什麼的？

SEM（競價推廣）其實很簡單，需要掌握的重點也就以下幾點：

關鍵詞拓展（如何利拓詞工具拓展競價關鍵詞，一個關鍵詞就是一個市場）

搭建帳戶（合理的搭建，不但可以節省後期的維護成本容易搭理，而且有利於後期帳戶的調整和優化）

創意的撰寫（優質的有營銷力的創意不但可以提高關鍵詞的質量量，同時能吸引客戶點擊，增加點擊率）

學習，是指通過閱讀、聽講、思考、研究、實踐等途徑獲得知識和技能的過程。學習分為狹義與廣義兩種:

狹義:通過閱讀、聽講、研究、觀察、理解、探索、實驗、實踐等手段獲得知識或技能的過程，是一種使個體可以得到持續變化(知識和技能，方法與過程，情感與價值的改善和升華)的行為方式。例如通過學校教育獲得知識的過程。

廣義:是人在生活過程中，通過獲得經驗而產生的行為或行為潛能的相對持久為方式。

社會上總會出現一種很奇怪的現象，一些人嘴上埋怨著老闆對他不好，工資待遇太低什麼的，卻忽略了自己本身就是懶懶散散，毫無價值。

自古以來，人們就會說著「因果循環」，這話真不假，你種什麼因，就會得到什麼果。這就是不好好學習釀成的後果，那麼學習有什麼重要性呢？

物以類聚人以群分，什麼樣水平的人，就會處在什麼樣的環境中。更會漸漸明白自己是什麼樣的能力。了解自己的能力，交到同水平的朋友，自己個人能力越高，自然朋友質量也越高。

在大多數情況下，學習越好，自身修養也會隨著其提升。同樣都是有錢人，暴發戶擺弄錢財只會讓人覺得俗，而真正有知識的人，氣質就會很不一樣。

高端大氣的公司以及產品是萬萬離不了知識的，只有在知識上不輸給別人，才可以在別的地方不輸別人。

孩子的教育要從小抓起，家長什麼樣孩子很大幾率會變成什麼樣。只有將自己的水平提升，才會教育出更好的孩子。而不是一個目光短淺的人。

因為有文化的父母會給孩子帶去更多的在成長方面的的幫助，而如果孩子有一個有文化的父母，通常會在未來的道路上，生活得更好，更順暢。

學習是非常的重要，學習的好壞最終決定朋友的質量、自身修養和後代教育等方面，所以平時在學習中要努力。

6、從SEM圖中可以看到單壁碳納米管上有很多的顆粒狀物質，其燃燒溫度和碳管本身很接近，這樣怎麼測定碳管純度

透射可能有所幫助

7、高斯光束的聚焦性能分析.為什麼往往聚焦之前先將光斑放大準直

這個就是焦距啊，平行光線的聚焦原理。
光纖激光器輸出的光想要是平行光就得加準直頭，因為光纖裸纖輸出是發散的。準直距離是指準直後的平行光距離，超出這個距離就會發散。

8、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(8)SEM光束聚焦在單顆粒上擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。