sem探頭

1、如何清洗SEM探頭

把樣品倉打開，拿個吸塵器套上真空泵用的接管吸一吸一般就可以。一定小心，有些磁性粉末有可能進入鏡筒，嚴重者電子束下來的很少，圖像亮度非常低，用此辦法簡單有效。
如果圖像亮度影響不大，可以用脫脂棉簽沾上少許酒精，不要太濕，擦拭物鏡下極靴孔，轉一下拿出來換新的棉簽，反復多次，直到棉簽不臟為止。切忌用一個棉簽反復蹭！

2、有沒有用過掃描電鏡（SEM）的呀？我想看下我篩出來細菌的樣子，但是不知道怎麼對 樣品進行處理！

暈，那樣能看到才怪。sem樣品要有一定導電性才行，不然電荷聚集你什麼也看不到。樓上正解

3、sem攝像頭與電腦連不上

首先，先卸載你原來的程序
卸載方法：右擊「我的電腦」-「屬性」-「硬體」-「設備管理器」或者直接按Ctrl+F1,然後打開「通用串列匯流排控制器」，把下面的"Usb Root Hub"都刪除掉。
還有就是打開「控制面板」的「添加刪除程序」有沒有攝像頭的應用程序如vm301的程序卸載掉
2、然後重新啟動，重啟之後就會找到新硬體，這時不要選擇自動安裝，然後點擊「下一步」，然後把「搜索軟盤、CD rom」打鉤，其它的有鉤的通通去掉。並且放上光碟，不要從光碟里安裝驅動。讓系統自動搜索。
這樣就可以安裝成功了。
一、 驅動不容易安裝的原因
1、 目前市面上流行的中星微攝像頭驅動版本很多，許多用戶在安裝卸載驅動過程中殘留有垃圾文件在系統注冊表裡面，造成後面的驅動更新過程中安裝困難；
2、 目前市面上存在著一種克隆操作系統，裡面集成了中星微舊版並同過了WHQL的驅動，當用戶安裝新買的攝像頭或更新最新驅動後，攝像頭無法正常工作；
方法一、自動卸載方法
步驟一、點擊開始菜單中對應驅動的Uninstall卸載，（有可能Uninstall的功能已經破壞，那麼可以通過安裝新驅動進行反安裝，系統會首先將舊驅動卸載掉，同樣也可以達到目的。）
步驟二、在新的驅動安裝前選擇附件中以下相對應的可執行文件：
FOR_XP_ME_98.EXE 用於Windows XP/ME/98
FOR_Win2K.EXE 用於Windows 2000
（注意：該工具要求系統的默認路徑是C盤才有效，在Windows ME/98操作系統下如出現錯誤對話框，表示系統已經干凈了，該工具不會對已經安裝的驅動產生危害）
步驟三、安裝新的驅動
方法二、手動卸載方法
步驟一、在我的電腦－工具－文件夾選項－查看中將隱藏文件和文件夾選擇為「選擇所有文件和文件夾
然後到C:\Windows\inf文件夾中將所有的OEM文件（如oem0.inf，oem0.pnf；oem1.inf，oem1.pnf…）剪切並轉移到另外的目錄中保存或者手動刪除掉該攝像頭對應的oem文件
步驟二、完成上面的步驟後，插入USB攝像頭，這時電腦會發現新硬體並彈出安裝驅動的信息，選擇取消，然後用滑鼠右鍵點擊我的電腦，選擇屬性，在彈出系統屬性界面中，進入系統屬性－硬體－設備管理器將帶有感嘆號的PC CAMERA按滑鼠右鍵卸載;
步驟三、拔除攝像頭，開始安裝新的驅動。
針對以上第二種現象
步驟一、克隆操作系統是將攝像頭驅動默認存放在C:\Windows\Driver\Camera\301P文件夾下面，當你點擊新的攝像頭驅動光碟安裝時，系統不會提示已經存在有攝像頭驅動並把此驅動卸載，請把這個文件夾找到並刪除掉；
步驟二、先安裝新的攝像頭驅動，再插上攝像頭裝載硬體，安裝完成後重新啟動電腦後可以正常使用；步驟三、不需重復以上兩個步驟，直接點擊新的光碟安裝最新的驅動，插上攝像頭後系統檢測到新硬體，並自動完成硬體驅動裝載；

4、深圳普瑞賽思的SEM有不同探頭嗎？

根據實際情況，不同的材料採用不同的探頭。而且不同探頭能同時工作，切換探測器無需重新調節電子束。這是普瑞賽思SEM的重要優勢之一。

5、sem se2模式和inlens模式的區別

SE1和SE2指的是不同的信號，不同的探測器，換句話說就是用不同的探測器接收不同的信號。
SE1是內置在鏡筒的二次電子探頭，有的型號蔡司電鏡這個探頭也叫Inlens，只接收SE1（入射電子束直接激發的二次電子，產生范圍較小）。
SE2在場發射電鏡中樣品室內的樣品台側邊二次電子探頭，接收SE2（入射到樣品中的電子激發出的二次電子，產生范圍較大）。
因為SE1產生范圍小，可以在小工作距離下工作，SE2產生范圍大，需要一定的工作距離，因此SE1解析度相對高一點

6、掃描電鏡sem的主要原理是什麼？測試過程需要重點注意哪些操作

電鏡的原理是：電子槍發出電子束打到樣品表面，激發出二次電子、背散射電子、X-ray等特徵信號，經收集轉化為數字信號，得到相應的形貌或成分信息。
測試注意事項：
1、新人找別人幫忙測試時，
明確自己的測試內容，如何樣品前處理，測試時間，然後跟測試相關人員聯系確定能否滿足你的測試需求
2、新人自己操作測試時，
明確自己的測試內容，如何樣品前處理，測試時間，
測試時注意樣品乾燥潔凈，操作時樣品和樣品台避免撞到探頭

7、什麼是SEM？

8、請教各位怎樣拍出大角度的SEM圖

可以有3個方法：
1，制樣的時候將樣品傾斜放置。
2，用傾斜樣品台制樣，有些SEM樣品台配有30，45,60度傾斜的樣品台。
3，高級的SEM，可以講探頭本身傾斜，從而獲得大角度的SEM圖

9、如何獲得清晰的掃描電鏡（SEM）圖像

1、制樣：成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導電，可能需要鍍金
2、環境：電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下
3、設備：電鏡電子槍仍在合理的使用時間內
4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰

10、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、

一、名稱不同

1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

2、TEM，英文全稱：，中文稱：透射電子顯微鏡。

3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。

4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。

5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。

6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。

二、工作原理不同

1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對樣品進行掃描，產生各種各樣的物理信息。通過接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。

2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發出的電子束經過冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過冷凝器，它將收斂到一個薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過樣品的電子束攜帶著樣品內部的結構信息。通過樣品緻密部分的電子數量較少，而通過稀疏部分的電子數量較多。

物鏡會聚焦點和一次放大後，電子束進入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進行綜合放大成像。最後，將放大後的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉換成可視圖像供用戶觀察。

3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當一束單色X射線入射晶體，因為水晶是由原子規則排列成一個細胞，規則的原子之間的距離和入射X射線波長具有相同的數量級，因此通過不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強度的空間分布，晶體結構密切相關。

4．入射的電子束和材料的作用可以激發原子內部的電子形成空穴。從填充孔到內殼層的轉變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來，產生特徵性的x射線，也可能激發原子核外的另一個電子成為自由電子，即俄歇電子。

5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡單。一個小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過材料，到達下表面。當探針通過單個原子時，通過探針的電流發生變化，這些變化被記錄下來。

電流在流經一個原子時漲落，從而非常詳細地描繪出它的輪廓。經過多次流動後，人們可以通過繪制電流的波動得到構成網格的單個原子的美麗圖畫。

6．原子力顯微鏡的工作原理：當原子間的距離減小到一定程度時，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉換而來，從而獲得樣品表面形貌的信息。

三、不同的功能

1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質進行微觀成像。

掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續調節20000～200000倍。它有一個大的景深，一個大的視野，一個立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細微結構。

樣品制備很簡單。目前，所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀，可以同時觀察微觀組織和形貌，分析微區成分。因此，它是當今非常有用的科學研究工具。

2．透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由於電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。

所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常掛在預處理過的銅線上觀察。

3X射線衍射檢測的重要手段的人們意識到自然，探索自然，尤其是在凝聚態物理、材料科學、生活、醫療、化工、地質、礦物學、環境科學、考古學、歷史、和許多其他領域發揮了積極作用，不斷拓展新領域、新方法層出不窮。

特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術、x射線吸收結構、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術等。這些新的X射線衍射檢測技術必將為各個學科注入新的活力。

4，俄歇電子在固體也經歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學調查是固體表面。

俄歇電子能譜通常採用電子束作為輻射源，可以進行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用於表面微觀分析，並可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現代固體表面研究的有力工具，廣泛應用於各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

5．當STM工作時，探頭將足夠接近樣品，以產生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間解析度，可以用於成像工作中的科學觀測。

STM在加工的過程中進行了表面上可以實時成像進行了表面形態，用於查找各種結構性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達到修復的目的，也可以用STM圖像檢查結果是好還是壞。

6．原子力顯微鏡的出現無疑促進了納米技術的發展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個小探針來掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態信息。

與傳統顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優勢高倍鏡下在大氣條件下，並且可以用於幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）並可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒有任何其他的樣品制備。

掃描後的三維形貌圖像可進行粗糙度計算、厚度、步長、方框圖或粒度分析。