1、XRD 和SEM的結果問什麼不一致
XRD一般用來鑒定物相，對於一些常見的復合礦物或者黏土礦物可以做一些定量分析。而SEM只是看錶面形貌，這二者沒什麼關聯的，有需要的話可以私信我，具體再看。
2、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全稱和中文名稱是什麼呀？幫幫忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射電鏡
EDS:能量彌散X射線譜（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope掃描電子顯微鏡
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope場發射掃描電子顯微鏡
STM:scanning tunneling microscope掃描隧道顯微鏡
AFM：Atomic force microscopy原子力顯微鏡
XRD：X-ray diffractionX射線衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射線光電子能譜
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立葉紅外光譜儀
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可見吸收光譜
3、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個分別是測什麼的？
測什麼百度一下吧，應該都有詳細的測試原理及項目。
區別應該是 SEM和TEM和AFM，越來越高級，放大倍數越來越高。XRD和紅外光譜這兩個是沒什麼關系的，xrd是測試晶體結構的，可以測試晶體結構的，對於可以看出你的材料是什麼。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強度反映了分子結構上的特點，可以用來鑒別未知液態水的紅外光譜物的結構組成或確定其化學基團；而吸收譜帶的吸收強度與化學基團的含量有關，可用於進行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用於有機化合物的結構鑒定在有機化學、生物化學、葯物學、環境科學等許多領域。
4、XRD和SEM聯合分析作用是什麼？
如果聯行分析他們不起作用的話，可以把聯合放血拆解成分析的一些階段。
5、SEM和XRD的聯合分析作用是什麼?
這個SEM和xrd，他們的聯系和分析也是沒什麼大作用的
6、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
7、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
如果薄膜導電，不需要噴金等，可以先測AFM，再測SEM，最後測XRD否則先測AFM，再測XRD，最後測SEMAFM和XRD是無損檢測，但AFM怕樣品弄臟，所以一般先測。