sem電子檢測器

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)sem電子檢測器擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、質譜的檢測器

質譜儀器的檢測器有很多種，此處僅對電子倍增管及其陣列、離子計數器、感應電荷檢測器、法拉第收集器等比較常見的檢測器作簡要評述。
電子倍增管是質譜儀器中使用比較廣泛的檢測器之一。單個電子倍增管基本上沒有空間分辨能力，難以滿足質譜學日益發展的需要。於是，人們就將電子倍增管微型化，集成為微型多通道板（MCP）檢測器，並且在許多實際應用中發揮了重要作用。除了這種形式的陣列檢測器外，電荷耦合器件（CCD）等在光譜學中廣泛使用的檢測器也在質譜儀器中獲得了日益增多的應用。IPD（ion-to-photon）檢測器由於它能夠在高壓下長時間穩定地工作，也引起了人們的極大重視。
離子計數器是一種非常靈敏的檢測器，一般多用來進行離子源的校正或離子化效率的表徵。對一般電子倍增管而言，一個離子能夠在10的負7次方秒內引發10的5-8次方個電子，對絕大多數工作在有機物檢測、生物化學研究領域的質譜儀器來說，其靈敏度已經足夠。但在某些地球化學、宇宙學研究中，則需要用離子計數器來進行檢測，其檢測電流可以低於每秒鍾一個離子的水平，一般離子源的信號至少也是離子計數器檢出限的10的10次方倍。
感應電荷檢測器也叫成像電流（imaging current）檢測器，常與ICR 質量分析器聯用。由於測量的是感應電荷（流），感應效率較低，故其靈敏度較低。但是，當它與ICR 等聯用時，由於ICR允許離子的非破壞性測量和反復測量，因而 ICR 仍具有非常高的靈敏度。法拉第盤（杯）是一種最為簡單的檢測器。這種檢測器是將一個具有特定結構的金屬片接入特定的電路中，收集落入金屬片上的電子或離子，然後進行放大等處理，得到質譜信號。一般來說，這種檢測器沒有增益，其靈敏度非常低，限制了它的用途。但是，在某些場合，這種古老的檢測器起到不可替代的作用。如印地安那（Indianna）大學Hieftje等製作的陣列檢測器就利用了法拉第杯檢測器的上述特點。

3、掃描電鏡sem主要探測的型號強弱與材料什麼物理量有關

1、二次電子探測器：材料元素原子序數越大，激發出的信號越少，信號強度越低，表現出電鏡圖像越暗
2、背散射電子探測器：材料元素原子序數越大，激發出的信號強度越高，表現出電鏡圖像越亮
3、能譜儀：材料不同元素激發出特徵X射線，收集時間越長，累積的強度越大

4、跪求PCB行業中SEM+EDS測試方法，非常感謝！！

PCB失效原因越來越多，在以前看起來難以發現的問題，現在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來。本文介紹了在PCB生產過程中利用SEM&EDS發現的三個較為經典的案例，介紹了該技術在實際解決問題過程中的關鍵作用
：（SEM-EDS）在PCB失效分析中的應用

5、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆 粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量為 5 ～ 35keV 的電子，以其交 叉斑作為電子源，經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈驅動下，於試樣表面按一定時間、空間順 序作柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產生二次電子發射（以及其它物理信號），二次電子發射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集 轉換成電訊號，經視頻放大後輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。

示意圖：
http://www.science.globalsino.com/1/images/1science9682.jpg

6、在"sem"中，接收樣品信息的探測器主要有哪些

sem推廣競價
主要工作：選擇擴展關鍵詞給關鍵詞價錢
根據同期設置計劃
根據每按流量轉化調整關鍵詞計劃包括間價錢
做報、周報、月報告

7、SEM如何利用二次電子成像

從書上查了一些內容，書的年代比較久遠，可能買不到...有興趣的話，嘗試著去圖書館借一下吧。
SEM工作時，電子槍發射的入射電子束打在試樣表面上，向內部穿透一定的深度，由於彈性和非彈性散射形成一個呈梨狀的電子作用體積。電子與試樣作用產生的物理信息，均由體積內產生。
二次電子是入射電子在試樣內部穿透和散射過程中，將原子的電子轟擊出原子系統而射出試樣表面的電子，其中大部分屬於價子激發，所以能量很小，一般小於50eV。因此二次電子探測體積較小。二次電子發射區的直徑僅比束斑直徑稍大一些，因而可獲得較高的解析度。
二次電子像的襯度取決於試樣上某一點發射出來的二次電子數量。電子發射區越接近表面，發射出的二次電子就越多，這與入射電子束與試樣表面法線的夾角有關。試樣的棱邊、尖峰等處產生的二次電子較多，相應的二次電子像較亮；而平台、凹坑處射出的二次電子較少，相應的二次電子像較暗。根據二次電子像的明暗襯度，即可知道試樣表面凹凸不平的狀況，二次電子像是試樣表面的形貌放大像。
SEM內在試樣的斜上方放置有探測器來接受這些電子。接受二次電子的裝置簡稱為檢測器，它是由聚焦極、加速極、閃爍體、光導管和光電倍增管組成。在閃爍體前面裝一筒裝電極，稱為聚焦極，又稱收集極。在其前端加一柵網，在聚焦極上加250-300V的正電壓。二次電子被此電壓吸引，然後又被帶有10kV正電壓的加速極加速，穿過網眼打在加速極的閃爍體上，產生光信號，經光導管輸送到光電倍增管，光信號轉變為電子信號。最後輸送到顯示系統，顯示出二次電子像。