1、SEM和TEM區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning
Electronic
Microscopy.
TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission
Electron
Microscope.
區別：
1.
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像.
TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
2.
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
3.
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
2、掃描電子顯微鏡(SEM)拍攝的格式是什麼
有TIF和JPG
TIF圖片通常2-3M大小，JPG格式通常幾百K，但是TIF帶有datebar，即放大倍數，掃描模式等信息，一般保存TIF格式
3、什麼是TEM,SEM,FIM
透射電子顯微鏡(TEM)
掃描電子顯微鏡(SEM)
場離子顯微鏡(FIM)
其他的還有：
高壓電子顯微鏡(HVEM)、分析電子顯微鏡(AEM)、場發射電子顯微鏡(FEEM)、聲學顯微鏡(AM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)
電子顯微鏡差不多就這些了
4、電子顯微鏡 SEM 的指示燈的意思？
可能你還沒有機會接觸更深，也就是說還沒有機會上手操作，否則一定需要培訓，簡單培訓過後，這些都必須知道，否則連開關機都不會。
雖然不同型號標識會略有不同，但通過意思還能判斷的：
Power--電鏡主機的電源開關
Air-- 基本是指泄真空，往真空室放氣，這樣才可以打開樣品倉，或者電子槍室等。
掃描電鏡是高真空系統，一般是由兩級或者三級真空泵串聯組成，通過真空閥門和真空測量器件共同進行自動邏輯控制。
START UP -- 開始抽真空 ：第一次開機，更換樣品後都需要重新抽真空，現在一般都是在軟體中控制。軟體中本身有指示燈，過去都在主機上用LED燈顯示。只要保持抽真空狀態，這個等一直亮。按AIR按鈕後，真空泵停止運轉，這個燈會滅。
SHUT DON-- 關機，不泄漏真空，但真空泵停止運轉，可以關閉總電源，保持電鏡真空腔體處於真空狀態。
R.P，Ratary Pump 縮寫，是前級泵，叫做旋片式機械真空泵，最高這空度0.1Pa，一般需要將真空室從大氣壓抽到10pa 以下。一般掃描電鏡抽真空時間設計在3分鍾以內。
M.P ，Molecular Pump縮寫，是二級泵，叫做分子泵，必須在氣體的分子流下工作，啟動真空度在10pa 以下。
也不知道你接觸的設備是哪個年代的，當前新設備基本都不用真空表，直接是數字顯示實際真空度。
總之都是一個意思，估計你的設備比較老。
真空表0-10之間，0代表大氣，10代表高真空，高壓電源允許打開的真空度（高壓電源是有真空保護裝置的，真空達不到，好的電鏡都會自動鎖住高壓電源開關，萬一真空泄露，也會自動關閉高壓電源）。
剛開機的時候，是因為真空室內的腔體處於一定真空狀態，不是從大氣開始抽的，表指示的是初始真空度，如果打開樣品室，更換樣品後再重新抽真空，就是從0開始了。
5、掃描電子顯微鏡(SEM) 和 電子探針(EMPA) 從結構上講最根本的區別是什麼?
哦呼操盤
6、TEM和SEM的工作原理差別?
1、掃描電子顯微鏡 SEM(scanning electron microscope)
（1）、掃描電子顯微鏡工作原理：
是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
（2）掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振盪 (等離子體)。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據上述不同信息產生的機理，採用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的採集，可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的採集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可製造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
2、透射電鏡TEM (transmission electron microscope)
（1）透射電鏡工作原理：
是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像， 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。
（2）透射電鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。要在機體死亡後的數分鍾釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特製的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。
7、SEM與TEM的區別
SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
區別：
SEM的樣品中被激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表徵樣品的質厚襯度，也可以表徵樣品的內部晶格結構。TEM的解析度比SEM要高一些。
SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然後去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區要求）。
TEM可以標定晶格常數，從而確定物相結構；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法准確測定結構。
8、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？
掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆 粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量為 5 ～ 35keV 的電子，以其交 叉斑作為電子源，經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈驅動下，於試樣表面按一定時間、空間順 序作柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產生二次電子發射（以及其它物理信號），二次電子發射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集 轉換成電訊號，經視頻放大後輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。
示意圖：
http://www.science.globalsino.com/1/images/1science9682.jpg