纖維sem掃描電鏡圖分析

1、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(1)纖維sem掃描電鏡圖分析擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

2、如何獲得清晰的掃描電鏡（SEM）圖像

1、制樣：成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導電，可能需要鍍金
2、環境：電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下
3、設備：電鏡電子槍仍在合理的使用時間內
4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰

3、混凝土掃描電鏡怎樣分析它的能譜圖

EDS分析是分析元素種類的，利用不同元素的X射線光子特徵能量不同進行成分分析。
完全水化的水泥石，其主要水化產物有：
1）水化硅酸鈣凝膠（C-S-H）約為70%左右。（是水泥石形成強度的最主要化合物）
2）氫氧化鈣晶體（Ca(OH)2）約為20%左右。
3）水化鋁酸鈣約為3%左右。
4）水化硫鋁酸鈣晶體（也稱鈣礬石）約為7%左右。
混凝土中因為有粉煤灰、礦渣粉等膠凝材料，水化產物會有所不同。

4、求教二氧化鈦SEM圖分析。。

掃描電鏡作為材料分析上一種常用的儀器，它的主要目的還是觀察你做出的材料形貌。因為你說是納米材料，其實納米材料不一定只有幾個納米，我印象里幾十甚至幾百個納米的都可以叫做納米材料。你這個圖里的微米單位，應該是給你一個量度，好像就跟地圖上的比例尺差不多。
你這個圖主要還是根據SEM的圖來表徵下你所做出的納米材料的特性，比如材料呈球形，尺寸在多少個納米之間，材料顆粒之間有沒有團聚現象之類的。

5、如何利用SEM掃描電鏡法分析玻纖增強尼龍這種復合材料的玻璃纖維增強效果

DPH 小白來啦~~~

6、求大神幫忙分析下SEM掃描電鏡圖片

確實沒有任何」大神「能夠分析你提供的圖片。要分析一張電鏡圖片有很多前提：你所分析的對象是什麼？目的是什麼？在什麼條件下取樣？在什麼情況下取照？照該視場的目的想說明什麼？~~等等等等。否則，一張微觀世界裡的照片，你能夠指望別人評論什麼？
看來，你還是比較外行。
如果你是真心想要提問，請將照片的具體情況交代清楚，好嗎？