sem高真空和低真空差別

1、怎麼區分低真空 與高真空！

根據GB3163－82，真空區域大致劃分如下：
低真空 10E5~10E2 Pa
中真空10E2~10E-1 Pa
高真空10E-1~10E-5 Pa
超高真空 <10E-5 Pa

2、真空度高和真空度低的區別，通俗的解釋一下？

你好，尊敬的百度知道用戶朋友，很高興為你解答問題！

真空度表示處於真空狀態下的氣體稀簿程度，通常用「真空度高」和「真空度低」來表示。真空度高表示真空度「好」的意思，真空度低表示真空度「差」的意思。

祝你天天快樂，如有不足，可以繼續追問，如果滿意請採納，謝謝

3、什麼是粗真空、中真空及高真空？每一個的壓力范圍

我國關於真空區域的劃分，《真空技術名詞術語（GB3163—1982）》中規定如下： 粗真空回、答低真空和高真空是依氣體分子平均自由程與容器特徵尺寸d相比的值來劃分的。主要考慮：是氣體分子之間的相互碰撞還是氣體分子與器壁的相互碰撞對所出現的物理現象起決定性作用。 將高真空和超高真空的界限定為10 -6 Pa，主要是考慮真空物理吸附機制只有在壓力p < 10 -6 Pa時才開始明顯，才可由擴散泵抽氣獲得，由B -A計進行壓力測量。至於超高與極高真空的劃分界限在10 -12 Pa，是因為p < 10 -12 Pa時，出現統計漲落（大於5 × 10 -2 ）。 上述的真空區域劃分，各區域均表示一個壓力范圍，原因是目前仍以壓力表示度。但是，在低真空、高真空、超高真空和極高真空中，所說的壓力是有著本質差別的，只是其他量的相對指示。 各個區域的真空物理特性、所用的真空泵和真空計詳見表1。 國外關於真空區域劃分也不一致，隨著真空技術的發展，真空區域劃分亦有變化。

4、什麼是高真 空粗真空？多少真空壓力算高真空，多少算低真空？

真空區域的劃分詳見真空設計手冊第3版第三頁，因這里上標無法輸入

5、工業真空泵如何區分高真空於低真空

真空區域的劃分，根據我國GB3163-82的規定

低真空 105～102Pa 高真空 10-1～10-5Pa
中真空 102～10-1Pa 超高真空 <10-5Pa
（註：105表示10的五次方）百度不能顯示上標

6、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、

一、名稱不同

1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

2、TEM，英文全稱：，中文稱：透射電子顯微鏡。

3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。

4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。

5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。

6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。

二、工作原理不同

1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對樣品進行掃描，產生各種各樣的物理信息。通過接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。

2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發出的電子束經過冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過冷凝器，它將收斂到一個薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過樣品的電子束攜帶著樣品內部的結構信息。通過樣品緻密部分的電子數量較少，而通過稀疏部分的電子數量較多。

物鏡會聚焦點和一次放大後，電子束進入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進行綜合放大成像。最後，將放大後的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉換成可視圖像供用戶觀察。

3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當一束單色X射線入射晶體，因為水晶是由原子規則排列成一個細胞，規則的原子之間的距離和入射X射線波長具有相同的數量級，因此通過不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強度的空間分布，晶體結構密切相關。

4．入射的電子束和材料的作用可以激發原子內部的電子形成空穴。從填充孔到內殼層的轉變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來，產生特徵性的x射線，也可能激發原子核外的另一個電子成為自由電子，即俄歇電子。

5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡單。一個小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過材料，到達下表面。當探針通過單個原子時，通過探針的電流發生變化，這些變化被記錄下來。

電流在流經一個原子時漲落，從而非常詳細地描繪出它的輪廓。經過多次流動後，人們可以通過繪制電流的波動得到構成網格的單個原子的美麗圖畫。

6．原子力顯微鏡的工作原理：當原子間的距離減小到一定程度時，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉換而來，從而獲得樣品表面形貌的信息。

三、不同的功能

1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質進行微觀成像。

掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續調節20000～200000倍。它有一個大的景深，一個大的視野，一個立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細微結構。

樣品制備很簡單。目前，所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀，可以同時觀察微觀組織和形貌，分析微區成分。因此，它是當今非常有用的科學研究工具。

2．透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由於電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。

所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常掛在預處理過的銅線上觀察。

3X射線衍射檢測的重要手段的人們意識到自然，探索自然，尤其是在凝聚態物理、材料科學、生活、醫療、化工、地質、礦物學、環境科學、考古學、歷史、和許多其他領域發揮了積極作用，不斷拓展新領域、新方法層出不窮。

特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術、x射線吸收結構、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術等。這些新的X射線衍射檢測技術必將為各個學科注入新的活力。

4，俄歇電子在固體也經歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學調查是固體表面。

俄歇電子能譜通常採用電子束作為輻射源，可以進行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用於表面微觀分析，並可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現代固體表面研究的有力工具，廣泛應用於各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

5．當STM工作時，探頭將足夠接近樣品，以產生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間解析度，可以用於成像工作中的科學觀測。

STM在加工的過程中進行了表面上可以實時成像進行了表面形態，用於查找各種結構性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達到修復的目的，也可以用STM圖像檢查結果是好還是壞。

6．原子力顯微鏡的出現無疑促進了納米技術的發展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個小探針來掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態信息。

與傳統顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優勢高倍鏡下在大氣條件下，並且可以用於幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）並可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒有任何其他的樣品制備。

掃描後的三維形貌圖像可進行粗糙度計算、厚度、步長、方框圖或粒度分析。

7、什麼是低真空和高真空，壓力值怎麼會有負多少兆帕

所謂的
真空
就是特定的密閉
容器
內的
氣壓
低於一個標准大氣壓；此密閉容器內空氣分子越少
真空度
就越高，就是所謂的
高真空
，反之亦然。至於負多少
兆帕
是
表壓
，表壓=
絕對壓力
-大氣壓，所以是負的。（沒有絕對的真空）

8、高壓真空發生器和低壓真空發生器的區別

區別就是一個是裝置，一個是零件。真空發生器是抽真空的裝置，利用真空發生器起到抽真空的作用。真空調壓閥是真空調節閥。 真空發生器就是利用正壓氣源產生負壓的一種新型，高效，清潔，經濟，小型的真空元器件