sem掃描電鏡操作

1、SEM怎麼操作

商業分析
明確網站要達到何種商業目的。例如銷售某種產品,提供某種服務.
市場調查
要弄清人們是怎樣搜索到網站的。具體包括調查常用關鍵詞，挖掘尚未被競爭對手意識到的性價比高的關鍵詞，調查競爭對手在做什麼，應該怎樣做搜索引擎廣告，哪些網站最值得爭取鏈接到本網站。
網站功能/結構優化
為贏得用戶的支持，根據目標用戶的需求和用戶體驗進行網站的產品規劃升級，同時根據搜索引擎的愛好針對網站的頁面結構、數據調用、URL結構進行優化改進。
搜索引擎優化
這一步的前提是要找准關鍵詞。針對很少有人查找的關鍵詞進行優化完全是浪費時間。有了合適的關鍵詞，就可以對網頁的 URL 、TITLE 、META標簽、正文標題、正文內容、ALT 標簽、鏈接進行優化。對於那些有框架、 FLASH 動畫、用資料庫動態生成頁面的網站還需要做進一步的工作。
實施鏈接策略
很多搜索引擎根據指向您的網站的重要程度來判斷您的網站的重要程度。雖然這些網站數量越多越好，但質量卻更為重要。實施鏈接策略以確保您的網站深度互聯到互聯網中。
提交到搜索引擎
網站被優化後，就可以提交到搜索引擎了。有數千個搜索引擎，其中真正重要的只有很少一部分。這些搜索引擎為其它搜索引擎、門戶網站、公司網站提供搜索結果，關鍵是要在這些搜索引擎上有好的排名。雖然這些搜索引擎中有一些允許用軟體自動提交新的網站，但是在越來越多的情況下，手工提交才有可能保證提交成功。所有主要的目錄都要求細致的手工提交。
搜索引擎收費服務
搜索引擎越來越多地引入付費收錄、付費排名、點擊收費的經營模式。不採用這些收費服務將使你失去一半的瀏覽者。這些收費服務的優點是結果明確，見效迅速。 搜索引擎的免費收錄通常要花 6 到 10 個星期，目錄根據您選擇的類別不同可能要花 6 個月以上的時間。
管理SEM
跟蹤目標關鍵詞的排名；根據伺服器日誌分析訪問者來自於哪些搜索引擎，用的何種關鍵詞，相應調整網頁代碼和內容；計算點擊收費廣告的投資收益率，評價其效果好壞。實際上搜索結果永遠處於激烈的競爭之中。如果您的競爭對手看到您排名很好，他們不會讓這種狀態保持下去。

2、關於SEM掃描電鏡的幾個問題，求大神出現...

如果是即將開始學習儀器操作的管理人員，建議先系統學習理論知識，再找專業的儀器工程師培訓。如果是學生，要使用電鏡，從安全形度考慮，1、2、3幾項通常是值機人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機，一般無問題；2、加高壓前一般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟體一般都已經設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻後再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍；3、樣品台有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極限時會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備；4，電子束與試樣作用，可激發出多種信號，如二次電子信號（用於形貌觀察），背散射電子信號（用於區分微區成分)、俄歇電子信號(用於表面元素分析）、特徵X射線（用於內部元素分析）、陰極熒光（用於發光材料研究），這些信號已經被有效的加以利用，這是一門獨立的學科，若需要詳細了解，你需要系統地學習一下。

3、如何獲得清晰的掃描電鏡（SEM）圖像

1、制樣：成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導電，可能需要鍍金
2、環境：電鏡處在無振動干擾和無磁場干擾的環境下
3、設備：電鏡電子槍仍在合理的使用時間內
4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰

4、SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(4)sem掃描電鏡操作擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。