1、為什麼SEM兩個圖的背景亮度會差異很大
SEM是掃描電鏡,TEM是透射電鏡掃描電鏡可以觀察物體的表面形貌,也可用於做成分的定性和半定量分析透射電鏡樣品需要做成薄片,可用於觀察內部顯微結構,也可用於選區電子衍射等,也可用於成分分析.
2、SEM背散射電子下，原子系數越大是越亮還是越暗，二次電子下是不是相反的。
背散射電子是發射電子被樣品彈性碰撞彈回來的，所以原子序數大的原子越大，彈性碰撞的概率越大，所以原子序數大的背散射電子強度的大；二次電子是從樣品表面發射的電子，跟原子序數沒關系，跟樣品的表面形態有關，因為撞擊角度90度是二次電子基本么有，傾斜裝機的二次電子產率就很高了，所以二次電子像是跟樣品觀察角度有關的。