sem設備

1、百度競價SEM中設備類型怎麼設置

設置：新建計劃與單元時，選擇設備類型計算機優先還是移動優先。
調整：計算機與移動關鍵詞價格不同，設定優先的意思是某一方關鍵詞的出價比例固定不動，只能相應調整相反方的出價比例。
方法：如果想要改變是不可能的，除非新建計劃，否則只能相應提高相反方的出價比例。
備註：實在是找方法的時候被上面的這個回答氣到了！不要怪我

2、DSP和SEM哪個效果更好？

各有千秋，SEM適合做搜索關鍵字，DSP是圖片+視頻廣告，看文字廣告和看圖片廣告，感受是不同了，一段好的文字，可以讓人印象深刻，一幅好的廣告圖片或視頻素材不但能加深印象，品牌傳達也做到了，SEM有百度，搜狗和360，Dsp有傳漾，平方互動，新數等等幾家。

3、sem攝像頭與電腦連不上

首先，先卸載你原來的程序
卸載方法：右擊「我的電腦」-「屬性」-「硬體」-「設備管理器」或者直接按Ctrl+F1,然後打開「通用串列匯流排控制器」，把下面的"Usb Root Hub"都刪除掉。
還有就是打開「控制面板」的「添加刪除程序」有沒有攝像頭的應用程序如vm301的程序卸載掉
2、然後重新啟動，重啟之後就會找到新硬體，這時不要選擇自動安裝，然後點擊「下一步」，然後把「搜索軟盤、CD rom」打鉤，其它的有鉤的通通去掉。並且放上光碟，不要從光碟里安裝驅動。讓系統自動搜索。
這樣就可以安裝成功了。
一、 驅動不容易安裝的原因
1、 目前市面上流行的中星微攝像頭驅動版本很多，許多用戶在安裝卸載驅動過程中殘留有垃圾文件在系統注冊表裡面，造成後面的驅動更新過程中安裝困難；
2、 目前市面上存在著一種克隆操作系統，裡面集成了中星微舊版並同過了WHQL的驅動，當用戶安裝新買的攝像頭或更新最新驅動後，攝像頭無法正常工作；
方法一、自動卸載方法
步驟一、點擊開始菜單中對應驅動的Uninstall卸載，（有可能Uninstall的功能已經破壞，那麼可以通過安裝新驅動進行反安裝，系統會首先將舊驅動卸載掉，同樣也可以達到目的。）
步驟二、在新的驅動安裝前選擇附件中以下相對應的可執行文件：
FOR_XP_ME_98.EXE 用於Windows XP/ME/98
FOR_Win2K.EXE 用於Windows 2000
（注意：該工具要求系統的默認路徑是C盤才有效，在Windows ME/98操作系統下如出現錯誤對話框，表示系統已經干凈了，該工具不會對已經安裝的驅動產生危害）
步驟三、安裝新的驅動
方法二、手動卸載方法
步驟一、在我的電腦－工具－文件夾選項－查看中將隱藏文件和文件夾選擇為「選擇所有文件和文件夾
然後到C:\Windows\inf文件夾中將所有的OEM文件（如oem0.inf，oem0.pnf；oem1.inf，oem1.pnf…）剪切並轉移到另外的目錄中保存或者手動刪除掉該攝像頭對應的oem文件
步驟二、完成上面的步驟後，插入USB攝像頭，這時電腦會發現新硬體並彈出安裝驅動的信息，選擇取消，然後用滑鼠右鍵點擊我的電腦，選擇屬性，在彈出系統屬性界面中，進入系統屬性－硬體－設備管理器將帶有感嘆號的PC CAMERA按滑鼠右鍵卸載;
步驟三、拔除攝像頭，開始安裝新的驅動。
針對以上第二種現象
步驟一、克隆操作系統是將攝像頭驅動默認存放在C:\Windows\Driver\Camera\301P文件夾下面，當你點擊新的攝像頭驅動光碟安裝時，系統不會提示已經存在有攝像頭驅動並把此驅動卸載，請把這個文件夾找到並刪除掉；
步驟二、先安裝新的攝像頭驅動，再插上攝像頭裝載硬體，安裝完成後重新啟動電腦後可以正常使用；步驟三、不需重復以上兩個步驟，直接點擊新的光碟安裝最新的驅動，插上攝像頭後系統檢測到新硬體，並自動完成硬體驅動裝載；

4、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、

一、名稱不同

1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

2、TEM，英文全稱：，中文稱：透射電子顯微鏡。

3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。

4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。

5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。

6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。

二、工作原理不同

1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對樣品進行掃描，產生各種各樣的物理信息。通過接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。

2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發出的電子束經過冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過冷凝器，它將收斂到一個薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過樣品的電子束攜帶著樣品內部的結構信息。通過樣品緻密部分的電子數量較少，而通過稀疏部分的電子數量較多。

物鏡會聚焦點和一次放大後，電子束進入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進行綜合放大成像。最後，將放大後的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉換成可視圖像供用戶觀察。

3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當一束單色X射線入射晶體，因為水晶是由原子規則排列成一個細胞，規則的原子之間的距離和入射X射線波長具有相同的數量級，因此通過不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強度的空間分布，晶體結構密切相關。

4．入射的電子束和材料的作用可以激發原子內部的電子形成空穴。從填充孔到內殼層的轉變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來，產生特徵性的x射線，也可能激發原子核外的另一個電子成為自由電子，即俄歇電子。

5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡單。一個小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過材料，到達下表面。當探針通過單個原子時，通過探針的電流發生變化，這些變化被記錄下來。

電流在流經一個原子時漲落，從而非常詳細地描繪出它的輪廓。經過多次流動後，人們可以通過繪制電流的波動得到構成網格的單個原子的美麗圖畫。

6．原子力顯微鏡的工作原理：當原子間的距離減小到一定程度時，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉換而來，從而獲得樣品表面形貌的信息。

三、不同的功能

1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質進行微觀成像。

掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續調節20000～200000倍。它有一個大的景深，一個大的視野，一個立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細微結構。

樣品制備很簡單。目前，所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀，可以同時觀察微觀組織和形貌，分析微區成分。因此，它是當今非常有用的科學研究工具。

2．透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由於電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。

所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常掛在預處理過的銅線上觀察。

3X射線衍射檢測的重要手段的人們意識到自然，探索自然，尤其是在凝聚態物理、材料科學、生活、醫療、化工、地質、礦物學、環境科學、考古學、歷史、和許多其他領域發揮了積極作用，不斷拓展新領域、新方法層出不窮。

特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術、x射線吸收結構、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術等。這些新的X射線衍射檢測技術必將為各個學科注入新的活力。

4，俄歇電子在固體也經歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學調查是固體表面。

俄歇電子能譜通常採用電子束作為輻射源，可以進行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用於表面微觀分析，並可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現代固體表面研究的有力工具，廣泛應用於各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

5．當STM工作時，探頭將足夠接近樣品，以產生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間解析度，可以用於成像工作中的科學觀測。

STM在加工的過程中進行了表面上可以實時成像進行了表面形態，用於查找各種結構性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達到修復的目的，也可以用STM圖像檢查結果是好還是壞。

6．原子力顯微鏡的出現無疑促進了納米技術的發展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個小探針來掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態信息。

與傳統顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優勢高倍鏡下在大氣條件下，並且可以用於幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）並可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒有任何其他的樣品制備。

掃描後的三維形貌圖像可進行粗糙度計算、厚度、步長、方框圖或粒度分析。

5、SEM的主要用途是什麼

SEM可以直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。
二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
掃描電鏡的優點是，①有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

6、誰能給我講解一下SEM和TEM的區別，詳細一點

最主要的來區別是：SEM是通過反射的自方式採集信號
TEM是通過透射的方式採集信號
1、樣品屬性大概必須都是固體，乾燥、無油、盡量導電。TEM獲得材料某個剖面的組織形態，sem獲得的是材料表面或者是斷面的組織形態。透射電鏡不可以看錶面形貌，而掃描電鏡所觀察的斷面或者表面的組織形態可以間接表徵材料的內部某個剖面的的組織形態。TEM解析度高，可以觀察原子晶格像，而掃描電鏡解析度低，最多隻能表徵由幾十或者幾百個原子形成的納米相--可以叫做晶粒或者功能團。
2、掃描電鏡制備簡單，可直接觀察樣品表面或者斷面；TEM樣品制備復雜精細，材料必須用專用制樣設備，制備成幾個微米甚至100nm厚度的薄片
3、材料有里有面，全方位了解材料的微觀組織結構需要從低倍到高倍的表徵。

介孔Pt纖維。左起依次是場發射掃描式電子顯微鏡、高解析度掃描式電子顯微鏡、透射電子顯微鏡拍攝的照片。
樓主看出用途的差別了嗎？
照片a 只能用掃描看，不能用透射。照片b和c是照片a中的一個纖維，可以用掃描也可以用透射觀察！有差別但很相似

7、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區別以及各自的應用

SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用於微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用於物相分析的檢測設備。
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）於20世紀60年 代問世，用來觀察標本的表面結構。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。為了使標本表面發射出次級電子，標本在固定、脫水後，要噴塗上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發出次級電子信號。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區別熒光屏上兩個相距0.2mm的光點，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。使用范圍：
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面塗層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用於冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。

8、pcb行業里的sem是什麼意思？

sem 在PCB 行業里的講法很多種, 舉三個例子:
pcb 設計：sem = surface electro minor.
設備上： sem = surface electro mounting
功能性：sem = semiconctor