1、掃描電鏡sem和透射電鏡tem對樣品有何要求
透射電鏡是用高能電子束（加速電壓一般在200KV以上）照射樣品，透過樣品的電子由於樣品厚度、元素、缺陷、晶體結構等的不同，會產生不同的花樣或圖像襯度，由此可以推測樣品的相關信息。由於電子束要能透過樣品，因此樣品厚度要求很薄，一般要小於100納米。如果要做高分辨，要求更薄。
2、測掃描電鏡需要製成懸濁液嗎，我想觀察樣品的形貌，測SEM還是TEM好？
一般都是需要分散的，否則容易團聚在一起，看不清楚形貌。當然如果你的樣品與乙醇有反應就算了。
如果僅僅是觀測形貌，SEM就可以，只要粒徑不是小到需要高分辨的程度。如果需要對晶體結構有所了解，最好還是做TEM。粉末樣品還是比較容易制備的。
3、請問大家，SEM樣品都是如何進行前處理的？
用乙醇分散一下，然後塗在導電膠上，最後用洗耳球吹一下，把多餘的吹掉
4、請問在SEM分析的樣品需要拋光得很光滑么？
SEM拋光我想應該是要清潔一下表面，避免表面含有一些臟東西之類的，如果是要看組織，不僅最後不是拋光，而且做SEM之前還需要腐蝕，SEM的二次電子成像原理就是要求表面凹凸不平，如果拋光了的話就沒辦法看二次電子像了，只能用背散射看了
5、在表徵塑料樣品時，有沒哪種SEM是不需要噴金的呢？
採用低真空模式或環境掃描模式