1、請問SEM，STM，AFM在應用上的區別
SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當於高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品,AFM一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
2、西安哪裡可以進行AFM-原子力顯微鏡，SEM-掃描電鏡，和XPS（X射線光電子能譜分析）測試？
我江蘇的可以 聯系[email protected] 樣品郵寄我可以測SEM 迅速給測
3、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個分別是測什麼的？
測什麼百度一下吧，應該都有詳細的測試原理及項目。
區別應該是 SEM和TEM和AFM，越來越高級，放大倍數越來越高。XRD和紅外光譜這兩個是沒什麼關系的，xrd是測試晶體結構的，可以測試晶體結構的，對於可以看出你的材料是什麼。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強度反映了分子結構上的特點，可以用來鑒別未知液態水的紅外光譜物的結構組成或確定其化學基團；而吸收譜帶的吸收強度與化學基團的含量有關，可用於進行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用於有機化合物的結構鑒定在有機化學、生物化學、葯物學、環境科學等許多領域。
4、納米材料sem相比於afm是不是更容易聚集
xrd是x射線衍射，可以分析物相，SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結構。AES是指能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡，也是觀察超微結構的。AFM是原子力顯微鏡，主要是觀察表面形貌用的-----回答的不是
5、哪裡能做含水樣品的AFM或者SEM
AFM圖中的顏色代表不同的高度，顏色越亮，代表這個位置的高度越高；顏色越暗，代表高度越低。
1、你給的文件中，上面那幅圖中一堆亮的點是由於高度過大或者掃描參數沒有調到最佳值，成像有點失真。對於高度的測量應該還有一個Z方向的標尺，通過AFM的相關軟體可以直接分析。
2、下面的兩張圖中就給出了那條亮線對應的高度，及相同顏色兩點的高度差。
6、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序？
XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
7、TEM, EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全稱和中文名稱是什麼呀？幫幫忙啦。。。
TEM :Transmission Electron Microscopy 透射電鏡
EDS:能量彌散X射線譜（Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM:scanning electron microscope掃描電子顯微鏡
FE-SEM: Field-Emission Scanning Electron Microscope場發射掃描電子顯微鏡
STM:scanning tunneling microscope掃描隧道顯微鏡
AFM：Atomic force microscopy原子力顯微鏡
XRD：X-ray diffractionX射線衍射
XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射線光電子能譜
FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立葉紅外光譜儀
UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可見吸收光譜
8、用afm測出的粗糙度跟用sem做出的厚度兩者之間有什麼差別
粗糙組和厚度是完全兩個概念，二者之間沒有直接的聯系和差別。
AFM測的粗糙度是材料的表面形貌特徵。
而你SEM做出來的厚度，只是表徵材料厚度的，和表面粗糙度沒有聯系
9、SEM，TEM，AFM檢測生物樣品都有什麼不足
SEM，TEM，AFM檢測生物樣品都有什麼不足
透射電鏡（TEM）的放大倍數要比掃描電鏡（SEM）的高,當然兩則的成像原理也是不同的,如果需要觀察納米顆粒在聚合物中的分散情況,你就必須要用TEM來觀察了,SEM通常看材料的缺口斷面,當然還有許多其他應用.\x0dSEM是電子束激發出表面次級電子,而TEM是穿透試樣,而電子束穿透能力很弱,所以TEM樣品要求很薄,只有幾十nm, TEM一般放大能達幾百w倍,而SEM只有幾萬倍.\x0d掃描電鏡通常用在一些斷口觀察分析,外加一個能譜儀,可以進行能譜掃描.其放大倍數相對較低,操作方便,樣品製作簡單,對於高聚物,須進行噴金處理 TEM則可以觀看樣品的內部結構,粒子的分散等.其放大倍數高於SEM,但也不是絕對,現在有些掃描電鏡的放大倍數也可以很高.其操作較復雜,樣品製作也較為煩瑣